公开(公告)号：CN110954818A

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201911285326.2

申请日：2019-12-13

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 张刚 ,  何鑫 ,  景海涛 ,  吕超 ,  张临志 ,  朱瑞环

IPC: G01R31/327 ,  G01R31/12 ,  G01R27/28 ,  G06K9/62

Abstract: 一种中间继电器线圈软故障检测方法，解决了现有继电器线圈检测方法复杂及不能有效检测软故障的问题，属于继电器故障检测领域。本发明包括：S1、建立两组数据样本：A组和B组，A组为中间继电器线圈正常的散射参数，B组为中间继电器线圈软故障后，得到的散射参数；S2、获取待测中间继电器线圈的散射参数，将该散射参数分别加入S1建立的A组和B组中，进行聚类，若待测中间继电器的散射参数与A组为一类，则确定待测中间继电器正常，若待测中间继电器的散射参数与B组为一类，则确定待测中间继电器出现软故障；所述散射参数包括相频特性中相角为零对应的频率。

公开(公告)号：CN110954818B

公开(公告)日：2022-08-09

申请号：CN201911285326.2

申请日：2019-12-13

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 张刚 ,  何鑫 ,  景海涛 ,  吕超 ,  张临志 ,  朱瑞环

IPC: G01R31/327 ,  G01R31/12 ,  G01R27/28 ,  G06K9/62

Abstract: 一种中间继电器线圈软故障检测方法，解决了现有继电器线圈检测方法复杂及不能有效检测软故障的问题，属于继电器故障检测领域。本发明包括：S1、建立两组数据样本：A组和B组，A组为中间继电器线圈正常的散射参数，B组为中间继电器线圈软故障后，得到的散射参数；S2、获取待测中间继电器线圈的散射参数，将该散射参数分别加入S1建立的A组和B组中，进行聚类，若待测中间继电器的散射参数与A组为一类，则确定待测中间继电器正常，若待测中间继电器的散射参数与B组为一类，则确定待测中间继电器出现软故障；所述散射参数包括相频特性中相角为零对应的频率。

公开(公告)号：CN102162828A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN201010609730.3

申请日：2010-12-28

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 王立欣 ,  吕超 ,  景海涛 ,  孙婷 ,  李龙涛 ,  邓晨华

IPC: G01R29/08 ,  G01R23/16

Abstract: 定性检测PCB板电磁干扰辐射性能的装置及方法，属于电磁检测技术领域。它解决了现有对PCB板电磁干扰辐射的检测结果准确性低及价格昂贵的问题。它通过PC机发送控制指令，单片机电路根据控制指令确定近场探头的扫描工作模式，单片机电路同时控制X轴方向步进电机和Y轴方向步进电机的运动方向和运动距离，单片机电路的控制信号驱动相应电机运动，从而带动近场探头完成定位动作，近场探头完成定位之后，通过频谱分析仪接收近场探头的采集信号，并将采集的信号传输给PC机，最终通过数据处理及图像显示单元将处理后的数据及图像进行显示。本发明用于检测PCB板的电磁干扰辐射。