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公开(公告)号：CN117629587B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311554216.8
申请日：2023-11-21
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法，所述装置包括待测倍频激光器、两个基准激光器、五个双波长反射镜、四个双波长分光镜、中性密度衰减片、部分反射镜组、电动滤光片转轮、两个快门、消色差透镜、光束质量分析仪和两个可变光阑。与现有技术相比，本发明可以同时测量双波长激光的光束质量因子，具有测量效率高、操作简便以及测量准确度高等优点。
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公开(公告)号：CN117664525B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202311552504.X
申请日：2023-11-21
Abstract: 本发明涉及一种测量双波长激光波长和线宽的装置及方法，所述装置包括待测双波长激光器、两个中性密度衰减片组转轮、两个近红外衰减片组转轮、两个双波长反射镜、两个快门、双波长分光镜、窄带滤光片转轮、消色差透镜、双波长单模光纤、光谱仪、谐波分束器、两个可变光阑和两个基准激光器。与现有技术相比，本发明可切换滤光模式，实现对双波长激光波长和线宽的自动测量，具有测量效率高、可重复性好以及操作简便等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117629587A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311554216.8
申请日：2023-11-21
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法，所述装置包括待测倍频激光器、两个基准激光器、五个双波长反射镜、四个双波长分光镜、中性密度衰减片、部分反射镜组、电动滤光片转轮、两个快门、消色差透镜、光束质量分析仪和两个可变光阑。与现有技术相比，本发明可以同时测量双波长激光的光束质量因子，具有测量效率高、操作简便以及测量准确度高等优点。
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公开(公告)号：CN117664525A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311552504.X
申请日：2023-11-21
Abstract: 本发明涉及一种测量双波长激光波长和线宽的装置及方法，所述装置包括待测双波长激光器、两个中性密度衰减片组转轮、两个近红外衰减片组转轮、两个双波长反射镜、两个快门、双波长分光镜、窄带滤光片转轮、消色差透镜、双波长单模光纤、光谱仪、谐波分束器、两个可变光阑和两个基准激光器。与现有技术相比，本发明可切换滤光模式，实现对双波长激光波长和线宽的自动测量，具有测量效率高、可重复性好以及操作简便等优点。
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公开(公告)号：CN117629585A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311554209.8
申请日：2023-11-21
Inventor： 马彬 , 郑湘粤 , 李静 , 赵一鸣 , 王占山 , 沈正祥 , 裴喜龙 , 何春伶 , 崔传 , 吴坚 , 颜冬月 , 周雷 , 侯志强 , 陈易凡 , 薛桐垚 , 潘俏菲 , 余俊
Abstract: 本发明涉及一种激光器状态长时间监测系统，包括工控机、服务器、仪器控制器、若干个参数数据监测模块、电气子系统、前端显示子系统以及后端处理子系统，工控机用于待测激光器所在光路中各光学仪器和光机械元件的控制和数据采集，服务器用于支撑前端显示子系统、后端处理子系统运行，仪器控制器与工控机连接，参数数据监测模块用于监测待测激光器的环境参数和激光器参数，电气子系统用于各个光学仪器及服务器供电，前端显示子系统用于与用户交互以及显示后端处理子系统的处理结果，后端处理子系统与前端显示子系统进行通信，用于接收前端显示子系统的控制指令，并对采集的数据进行处理。与现有技术相比，本发明具有长时间运行、无人值守以及异常报警等优点。
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公开(公告)号：CN117723268B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202311552509.2
申请日：2023-11-21
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置及方法，装置包括He‑Ne激光器、光学斩波器、光束质量分析仪、光电二极管、示波器和数字信号延时发生器，He‑Ne激光器发射出连续激光形成光路，光路上依次设有光学斩波器和光束质量分析仪，示波器与光电二极管相连，光电二极管朝向光束质量分析仪，示波器和数字信号延时发生器连接；激光穿过光学斩波器形成脉冲激光，示波器与数字信号延时发生器协同实现信号触发同步，脉冲激光照射在光束质量分析仪上成像光斑，基于光斑数据计算，得到激光抖动性参数。与现有技术相比，本发明光斑信号触发同步，可获得不同脉宽频率的激光，可获得与连续激光一致的测量结果，实现系统抖动测量与校准。
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公开(公告)号：CN117723268A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202311552509.2
申请日：2023-11-21
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置及方法，装置包括He‑Ne激光器、光学斩波器、光束质量分析仪、光电二极管、示波器和数字信号延时发生器，He‑Ne激光器发射出连续激光形成光路，光路上依次设有光学斩波器和光束质量分析仪，示波器与光电二极管相连，光电二极管朝向光束质量分析仪，示波器和数字信号延时发生器连接；激光穿过光学斩波器形成脉冲激光，示波器与数字信号延时发生器协同实现信号触发同步，脉冲激光照射在光束质量分析仪上成像光斑，基于光斑数据计算，得到激光抖动性参数。与现有技术相比，本发明光斑信号触发同步，可获得不同脉宽频率的激光，可获得与连续激光一致的测量结果，实现系统抖动测量与校准。
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