公开(公告)号：CN111856273B

公开(公告)日：2021-07-20

申请号：CN202010593457.3

申请日：2020-06-27

Applicant: 同济大学

Inventor： 康劲松 ,  母思远 ,  武凯丽 ,  姜后晓

IPC: G01R31/34 ,  G01R31/72

Abstract: 本发明涉及一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，该方法包括如下步骤：S1、获取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值；S2、建立扁线绕组损耗解析模型，确定负载验温度下的高频交流电阻值，同时考虑转子的旋转效应影响确定负载试验温度下的单相基频交流电阻修正值；S3、对相电流进行傅里叶分解，对各个频次下的焦耳损耗进行叠加得到单相绕组交流损耗；S4、各相绕组交流损耗求和得到电机定子绕组总的交流损耗。与现有技术相比，本发明综合考虑集肤效应、邻近效应以及转子的旋转效应对电机扁线绕组损耗的影响，提高了扁线绕组损耗测试的准确性，解决了扁线永磁同步电机绕组交流损耗测试难的问题。

公开(公告)号：CN111856273A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010593457.3

申请日：2020-06-27

Applicant: 同济大学

Inventor： 康劲松 ,  母思远 ,  武凯丽 ,  姜后晓

IPC: G01R31/34 ,  G01R31/72

Abstract: 本发明涉及一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，该方法包括如下步骤：S1、获取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值；S2、建立扁线绕组损耗解析模型，考虑转子的旋转效应影响，获取负载试验温度下单相基频交流电阻修正值以及高频交流电阻值；S3、对相电流进行傅里叶分解，对各个频次下的焦耳损耗进行叠加得到单相绕组交流损耗；S4、各相绕组交流损耗求和得到电机定子绕组总的交流损耗。与现有技术相比，本发明综合考虑集肤效应、邻近效应以及转子的旋转效应对电机扁线绕组损耗的影响，提高了扁线绕组损耗测试的准确性，解决了扁线永磁同步电机绕组交流损耗测试难的问题。