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公开(公告)号:CN119784614A
公开(公告)日:2025-04-08
申请号:CN202411580103.X
申请日:2024-11-07
Applicant: 同济大学
IPC: G06T5/60 , G02B17/06 , H04N23/55 , H04N23/54 , H04N23/95 , G06T5/20 , G06T5/73 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/08
Abstract: 本发明涉及一种基于计算成像驱动加工简化的反射式光学系统,包括反射式光学系统、探测器和图像重建系统,反射式光学系统包括第一自由曲面反射镜、第二偶次非球面反射镜和第三自由曲面反射镜,探测器与反射式光学系统的焦平面重合,图像重建系统包括NPU图像数据处理器,该NPU图像数据处理器运行有图像复原算法模型;入射光依次经过第一自由曲面反射镜、第二偶次非球面反射镜和第三自由曲面反射镜聚焦后入射到探测器上,通过探测器将探测结果传输到图像重建系统中进行处理,输出接近衍射极限像质的图像。与现有技术相比,本发明能够将光学系统加工要求降低至少一个数量级,且具有接近衍射极限像质的成像质量。
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公开(公告)号:CN119359596A
公开(公告)日:2025-01-24
申请号:CN202411357926.6
申请日:2024-09-27
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法,包括:构建通用光学元件加工误差模型;基于给定的加工面形误差的均方根值,确定误差模型的参数边界,生成加工误差参数,并导入光学设计软件中进行光线追踪,获取系统各个视场波像差,以得到各视场点扩散函数,并叠加噪声图像,获得退化图像,从而构建复原图像,评估系统各视场MTF值,以各个光学元件的加工公差极限;将各个光学元件的加工公差极限乘以比例系数Ra,循环执行上述步骤,并逐渐增加比例系数,直至得到系统各个光学元件加工误差边界。与现有技术相比,本发明能够实现计算成像系统的公差分析,确定光学元件加工公差边界,对系统中光学元件的加工具有重要指导意义。
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