检测系统
    2.
    发明公开
    检测系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN117555034A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311829691.1

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 本发明涉及一种检测系统,包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器,第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线,第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧,第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线,第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧,第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线,第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧,第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线,第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧,第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。

    一种物品检测装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109597138B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN201910009043.9

    申请日:2019-01-04

    Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置,包括:门式框架,包括位于顶部的横臂,和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂,所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道;回转支撑装置,分别连接在所述两个竖臂的上端,用于支撑所述横臂,并能够通过自身的旋转运动使所述两个竖臂分别绕自身竖直轴线旋转;以及基于辐射成像的物品检测组件,至少部分地设置于所述门式框架,用于对通过所述门式框架的物品进行检测;其中,所述横臂包括伸缩装置,能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度,从而提升对不同待检测物品的检测效率。

    安检设备、安检系统及安检方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114152994A

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202111670243.2

    申请日:2021-12-31

    Abstract: 本公开提供一种安检设备及安检设备,包括:支架,限定沿第一方向延伸的检查通道;第一X射线加速器,设置在支架的顶部的偏移检查通道的中心线的位置,配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线,用以对通过检查通道的待检物品进行检查;第二X射线加速器,配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查;以及探测器装置,包括:多个探测器模块,设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置,用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线,以形成待检物品的透射图像;其中,第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。还提供一种应用于安检设备的安检方法。

    一种物品检测装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109597138A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201910009043.9

    申请日:2019-01-04

    Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置,包括:门式框架,包括位于顶部的横臂,和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂,所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道;回转支撑装置,分别连接在所述两个竖臂的上端,用于支撑所述横臂,并能够通过自身的旋转运动使所述两个竖臂分别绕自身竖直轴线旋转;以及基于辐射成像的物品检测组件,至少部分地设置于所述门式框架,用于对通过所述门式框架的物品进行检测;其中,所述横臂包括伸缩装置,能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度,从而提升对不同待检测物品的检测效率。

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