一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定方法

    公开(公告)号:CN113655419B

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN202110953862.6

    申请日:2021-08-19

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明涉及一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定方法,包括以下步骤:测定之前测量并记录一定时间内的空载数据,对测定装置进行标定,开始正式实验,得到该待测试样相应的磁滞回线数据,通过图像处理方法将被测图像与库图像进行识别对比,从而分析出被测材料的磁学性能。本发明提供的检测方法主要分析过程依靠计算机的分析算法,成本较低,所采用的检测装置结构简单,造价低,操作方便;本发明可以对不完整的曲线进行分析,同时本发明针对试样的磁滞回线不仅能分析它的各种性能参数,还会根据这些参数对物质的材料进行判断,判断所测物质中是否含有杂质,测试速度快,效率高,准确率高。

    一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定方法

    公开(公告)号:CN113655419A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202110953862.6

    申请日:2021-08-19

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明涉及一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定方法,包括以下步骤:测定之前测量并记录一定时间内的空载数据,对测定装置进行标定,开始正式实验,得到该待测试样相应的磁滞回线数据,通过图像处理方法将被测图像与库图像进行识别对比,从而分析出被测材料的磁学性能。本发明提供的检测方法主要分析过程依靠计算机的分析算法,成本较低,所采用的检测装置结构简单,造价低,操作方便;本发明可以对不完整的曲线进行分析,同时本发明针对试样的磁滞回线不仅能分析它的各种性能参数,还会根据这些参数对物质的材料进行判断,判断所测物质中是否含有杂质,测试速度快,效率高,准确率高。

    一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定装置

    公开(公告)号:CN215768969U

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202121952657.X

    申请日:2021-08-19

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种通过磁滞回线进行材料磁学性能的测定装置,包括底座、电磁铁、支撑柱、平行梁式力传感器、试样支架和控制系统,所述的电磁铁设在底座一端,支撑柱设在底座的另一端;平行梁式力传感器的一端与支撑柱顶端相连,另一端与试样支架相连,试样支架位于电磁铁上方;控制系统设在支撑柱上。本实用新型提供的检测装置结构简单,造价低,操作方便;本实用新型可以对不完整的曲线进行分析,同时本实用新型针对试样的磁滞回线不仅能分析它的各种性能参数,还会根据这些参数对物质的材料进行判断,判断所测物质中是否含有杂质,测试速度快,效率高,准确率高。

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