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公开(公告)号:CN113674784A
公开(公告)日:2021-11-19
申请号:CN202110982620.X
申请日:2021-08-25
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G11C13/00
Abstract: 本文揭示一包括可程序化电阻器的记忆体单元与记忆体系统,记忆体单元包括一或更多个可程序化电阻器及控制晶体管。在一态样中,可程序化电阻器包括用于形成晶体管的栅极结构及一或更多个源极/漏极结构。可通过对栅极结构施加电压来设定可程序化电阻器的电阻,同时启用控制晶体管。可通过感测通过可程序化电阻器的电流来读取由可程序化电阻器储存的数据,同时禁用控制晶体管。在一态样中,通过相同类型的元件实现一或更多个可程序化电阻器及控制晶体管,使记忆体单元可通过简化的制程以压缩方式形成。
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公开(公告)号:CN222339878U
公开(公告)日:2025-01-10
申请号:CN202420955000.6
申请日:2024-05-06
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H10B20/25
Abstract: 揭露一种记忆体元件。记忆体元件包含记忆体单元,记忆体单元包含晶体管以及复数对串联耦合至晶体管的电阻器。每一对电阻器都包含第一电阻器以及第二电阻器。晶体管沿着基材的主要表面延伸。至少电阻器的第一对形成于多个金属层中的第一者。多个电阻器层中的第一者设置于晶体管上方。至少电阻器的第二对形成于多个金属层中的第二者。多个金属层中的第二者设置于多个电阻器层中的第一者上方。
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