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公开(公告)号:CN102194815A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201010293536.9
申请日:2010-09-21
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/02 , H01L27/088 , G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5068 , G06F17/50 , G06F17/5009 , H01L27/088 , H01L27/0922
Abstract: 本发明揭露一种金属氧化物半导体组件及其制作方法,该金属氧化物半导体(MOS)组件包含具有第一与第二接触的有源区。第一与第二栅极位于第一与第二接触之间。第一栅极邻设于第一接触,且具有第三接触。第二栅极邻设于第二接触,且具有与第三接触耦合的第四接触。为有源区与第一栅极所定义出的晶体管具有第一临界电压,而为有源区与第二栅极所定义出的晶体管具有第二临界电压。
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公开(公告)号:CN102194815B
公开(公告)日:2014-01-01
申请号:CN201010293536.9
申请日:2010-09-21
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/02 , H01L27/088 , G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5068 , G06F17/50 , G06F17/5009 , H01L27/088 , H01L27/0922
Abstract: 本发明揭露一种金属氧化物半导体组件及其制作方法,该金属氧化物半导体(MOS)组件包含具有第一与第二接触的有源区。第一与第二栅极位于第一与第二接触之间。第一栅极邻设于第一接触,且具有第三接触。第二栅极邻设于第二接触,且具有与第三接触耦合的第四接触。为有源区与第一栅极所定义出的晶体管具有第一临界电压,而为有源区与第二栅极所定义出的晶体管具有第二临界电压。
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