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公开(公告)号:CN103668107A
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201310494848.X
申请日:2013-10-21
Applicant: 友达光电股份有限公司
CPC classification number: H01L21/02216 , H01L21/02126 , H01L21/02274 , H01L23/291 , H01L27/1248 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种用以阻障水气及氧气穿透的阻障薄膜,包括单一膜层,以有机硅化物为前驱物经化学气相沉积(CVD)成长而成。此单一膜层至少具有硅原子(Si)、氧原子(O)及碳原子(C),并具有碳/硅原子比例介于约0.1-0.5,及氧/硅原子比例介于约2.0-2.5。硅与氧原子在单一膜层中形成四种键结结构:Si(-O)4、Si(-O)3、Si(-O)2及Si(-O)1。在四种键结结构总量为100%中,Si(-O)4、Si(-O)3、Si(-O)2及Si(-O)1的键结结构分别占约50%-99.9%、0.01%-50%、0%-10%及0%-10%。
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公开(公告)号:CN103668107B
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201310494848.X
申请日:2013-10-21
Applicant: 友达光电股份有限公司
CPC classification number: H01L21/02216 , H01L21/02126 , H01L21/02274 , H01L23/291 , H01L27/1248 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种用以阻障水气及氧气穿透的阻障薄膜,包括单一膜层,以有机硅化物为前驱物经化学气相沉积(CVD)成长而成。此单一膜层至少具有硅原子(Si)、氧原子(O)及碳原子(C),并具有碳/硅原子比例介于约0.1-0.5,及氧/硅原子比例介于约2.0-2.5。硅与氧原子在单一膜层中形成四种键结结构:Si(-O)4、Si(-O)3、Si(-O)2及Si(-O)1。在四种键结结构总量为100%中,Si(-O)4、Si(-O)3、Si(-O)2及Si(-O)1的键结结构分别占约50%-99.9%、0.01%-50%、0%-10%及0%-10%。
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