丝材韧性评价方法及装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118883305A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410955546.6

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 本申请提供了一种丝材韧性评价方法及装置,涉及材料分析技术领域。该方法包括:在目标丝材以待测点切向方向的垂直线为对称轴对称弯曲时,获取不同弯曲度下的待测点曲率K;从多个K中确定初始曲率K0、末端曲率K2及K0变化到K2之间的至少一个过渡曲率K1,K0和K2分别在目标丝材对称弯曲发生塑性变形之前和之后测得;采用X射线衍射法确定目标丝材的待测点于K0、K1和K2下的至少包括切向应力的应力;根据K0对应的待测点切向应力、K1对应的待测点切向应力以及K2对应的待测点切向应力之间的至少一项,确定目标丝材的韧性特征。本申请针对较细直径的丝材亦可精准表征丝材的韧性特征,以更全面、精确地评判丝材的质量。

    碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量的评估方法

    公开(公告)号:CN117929429A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410107676.4

    申请日:2024-01-25

    Abstract: 本发明公开了一种碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量的评估方法,通过研究存在于碳化钨粉末中的碳化钨缺碳相、晶粒抑制剂与碳化钨缺碳相结合形成的固溶相以及WC相的晶格常数的变化,可以推导出晶粒抑制剂固溶量的变化,对后续工艺有指导意义:已固溶的晶粒抑制剂减少了后续工艺Co相中的晶粒抑制剂含量,理论上减弱了抑制效果,即晶粒抑制剂在碳化钨粉末中固溶量越大,后续工艺过程中的晶粒抑制剂的抑制效果越差。评价碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量,有利于评估碳化钨粉末的制备工艺对固溶量的影响,有利于评估晶粒抑制剂对后续工艺的抑制效果,进而评估不同工艺制备的碳化钨粉末对后续工艺的影响,有利于更深入的表征粉末质量。

    一种涂层残余应力的测试方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115183925A

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210732630.2

    申请日:2022-06-24

    Abstract: 本发明公开了一种涂层残余应力的测试方法,涉及残余应力无损检测技术领域。本发明所述测试方法包括如下步骤:(1)利用X射线衍射法测定涂层中的物相及相应的晶体结构;(2)采用掠入射法获得衍射图谱;(3)采用Rietevield法进行全谱拟合,通过拟合得到的峰位偏差值计算所述涂层的残余应力。本发明所述测试方法简单,并且可以对复杂的应力状态进行分析,准确度较高。

    一种石墨化度的表征方法、装置、设备、介质及程序产品

    公开(公告)号:CN119715633A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411801302.9

    申请日:2024-12-09

    Abstract: 本发明涉及性能测试技术领域,公开了一种石墨化度的表征方法、装置、设备、介质及程序产品,方法包括:获取对待测样品进行X射线扫描后的X射线衍射图谱;根据X射线衍射图谱中预设晶面所对应衍射峰确定目标峰位和目标半高宽;根据目标峰位和目标半高宽计算衍射峰的峰积比,以峰积比表征待测样品的石墨化度趋势。本发明能够将衍射峰的角度差异转换为峰积比,无需考虑精确峰位、分峰参数等,避免采用Mering‑Maire公式时的局限性,提高石墨度化趋势判断的准确性,从而保证产品质量控制或制造工艺参数调整的可靠性。

    相成分测定方法、装置、设备、存储介质和程序产品

    公开(公告)号:CN115579073A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211101492.4

    申请日:2022-09-09

    Abstract: 本申请涉及一种相成分表征方法、装置、设备、存储介质和程序产品。获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量,根据各相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系,确定各相成分中各元素的原子占比,然后根据各相成分中各元素的原子占比和各相成分的相含量,得到待检测粉末中各元素的质量占比;其中,待检测粉末为无限固溶体。该方法通过考虑待检测粉末中各相成分的晶格常数随着第一元素的原子占比的变化而变化,能够快速准确地计算出待检测粉末中各元素质量占比。

    一种测定WC-Co硬质合金中钴相结构的方法

    公开(公告)号:CN103913475B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201310004572.2

    申请日:2013-01-07

    Abstract: 本发明公开了一种测定WC?Co硬质合金中钴相结构的方法,包括抛光WC?Co硬质合金试样测试面的步骤、电解去除试样表层WC晶粒的步骤、清洁试样表面的步骤和用XRD测试WC?Co硬质合金试样中钴相的结构、晶粒大小和/或晶面间距。该方法是先利用电解方法除去WC?Co硬质合金试样表层WC晶粒,再对试样表面进行XRD分析,由于消除了试样表层WC相的影响,可以得到完全的钴相衍射图谱,在此基础上便能精确地测定钴相的相结构、晶粒大小和晶面间距等参数,具有工艺简便,方法可靠的特点。

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