基于角度复用的痕量太赫兹指纹检测的倒置光栅传感器

    公开(公告)号:CN114324232A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111662619.5

    申请日:2021-12-31

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了基于角度复用的痕量太赫兹指纹检测的倒置光栅传感器,包括同质的倒置光栅以及均匀涂覆于传感器上方表面的待测样品;所述倒置光栅预设角度的角度范围为0°‑75°,所述倒置光栅的材料为二氧化硅SiO2、硅Si、蓝宝石Al2O3、氮化硅Si3N4中的任意一种。在利用此倒置光栅进行痕量检测时,太赫兹波从倒置光栅结构下方入射,由于导模共振效应在结构上表面形成了倏逝波场,极大地增强样品对太赫兹波的吸收,并且利用具有平整上表面的倒置光栅进行测量,避免了在较大起伏度的图案化表面上均匀共形涂覆的工序以及复杂微机械工艺,通过预设角度的光源扫描,最终可实现痕量分子的宽带指纹增强检测。

    一种基于渐变周期增强太赫兹光谱吸收的介质超材料

    公开(公告)号:CN114325897A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111662633.5

    申请日:2021-12-31

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于渐变周期增强太赫兹光谱吸收的介质超材料,包括;数十个检测模块以及均匀共形在检测模块表面的待检测物质;每个所述检测模块均由下层光栅层和上层波导层构成;所述下层光栅层和上层波导层为相同介质材料;所述下层光栅层呈周期性均匀分布在所述上层波导层上;待检测物质均匀共形在所述上层波导层表面。结构基于导模共振原理,在利用该超材料对痕量待测物进行指纹识别时,不但有效增强痕量样品对太赫兹的吸收,还解决了传统超表面需要在起伏度大的微结构上共形装载样品的问题,简化样片表面处理过程,进一步提升检测精准性和可重复性,以实现痕量分子的宽带指纹增强检测。

    基于角度复用的痕量太赫兹指纹检测的倒置光栅传感器

    公开(公告)号:CN114324232B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202111662619.5

    申请日:2021-12-31

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了基于角度复用的痕量太赫兹指纹检测的倒置光栅传感器,包括同质的倒置光栅以及均匀涂覆于传感器上方表面的待测样品;所述倒置光栅预设角度的角度范围为0°‑75°,所述倒置光栅的材料为二氧化硅SiO2、硅Si、蓝宝石Al2O3、氮化硅Si3N4中的任意一种。在利用此倒置光栅进行痕量检测时,太赫兹波从倒置光栅结构下方入射,由于导模共振效应在结构上表面形成了倏逝波场,极大地增强样品对太赫兹波的吸收,并且利用具有平整上表面的倒置光栅进行测量,避免了在较大起伏度的图案化表面上均匀共形涂覆的工序以及复杂微机械工艺,通过预设角度的光源扫描,最终可实现痕量分子的宽带指纹增强检测。

    一种基于渐变周期增强太赫兹光谱吸收的介质超材料

    公开(公告)号:CN114325897B

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN202111662633.5

    申请日:2021-12-31

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于渐变周期增强太赫兹光谱吸收的介质超材料,包括;数十个检测模块以及均匀共形在检测模块表面的待检测物质;每个所述检测模块均由下层光栅层和上层波导层构成;所述下层光栅层和上层波导层为相同介质材料;所述下层光栅层呈周期性均匀分布在所述上层波导层上;待检测物质均匀共形在所述上层波导层表面。结构基于导模共振原理,在利用该超材料对痕量待测物进行指纹识别时,不但有效增强痕量样品对太赫兹的吸收,还解决了传统超表面需要在起伏度大的微结构上共形装载样品的问题,简化样片表面处理过程,进一步提升检测精准性和可重复性,以实现痕量分子的宽带指纹增强检测。

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