公开(公告)号：CN109188108A

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201811119477.6

申请日：2018-09-25

Applicant: 厦门大学

Inventor： 韩峰 ,  左海勇 ,  张奇英 ,  陈延锦 ,  刘海

IPC: G01R29/08

CPC classification number: G01R29/0842

Abstract: 本发明公开了一种小型轻便易安装的雷电探测系统，包括，电场探测器、上可调控机械托盘、磁场探测器、电子系统、太阳能供电系统的电源仓，所述电场探测器垂直放置在上可调控机械托盘的上端，所述上可调控机械托盘和下可调控机械托盘之间用金属柱牢固连接，所述下可调控机械托盘上端固定设置电子系统；所述上可调控机械托盘上面刻有深度为1mm的互相正交的凹槽，中心处有通孔；凹槽的两端安装了卡槽用来固定磁场探测器，互相正交的凹槽的作用是让两个磁场探测器分别对准南北方向和东西方向。本发明具有，体积小、重量轻的特点。

公开(公告)号：CN109212322A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201811289933.1

申请日：2018-10-31

Applicant: 厦门大学

Inventor： 柳清伙 ,  张奇英 ,  肖芬 ,  朱锦锋

IPC: G01R27/26 ,  G01R33/12

Abstract: 一种多功能矩形腔微扰法检测纳米薄膜复介质常数的方法，涉及检测材料性能参数的领域。所述纳米薄膜片式材料测量装置包含矩形腔传感器、微波矢量网络分析仪、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。本发明可进行纯介电材料复介电常数(介电常数，介电损耗系数)、纯磁性材料复磁导率(磁导率，磁损耗系数)及混合介质材料复介质常数(介电常数，介电损耗系数，磁导率，磁损耗系数)的检测，具有多功能和多模式，检测方法精确度高、实验操作方便。

公开(公告)号：CN109212322B

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201811289933.1

申请日：2018-10-31

Applicant: 厦门大学

Inventor： 柳清伙 ,  张奇英 ,  肖芬 ,  朱锦锋

IPC: G01R27/26 ,  G01R33/12

Abstract: 一种多功能矩形腔微扰法检测纳米薄膜复介质常数的方法，涉及检测材料性能参数的领域。所述纳米薄膜片式材料测量装置包含矩形腔传感器、微波矢量网络分析仪、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。本发明可进行纯介电材料复介电常数(介电常数，介电损耗系数)、纯磁性材料复磁导率(磁导率，磁损耗系数)及混合介质材料复介质常数(介电常数，介电损耗系数，磁导率，磁损耗系数)的检测，具有多功能和多模式，检测方法精确度高、实验操作方便。