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公开(公告)号：CN106018973B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201610539649.X
申请日：2016-07-11
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种微带测试纳米薄膜微波电磁参数装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106018973A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610539649.X
申请日：2016-07-11
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种微带测试纳米薄膜微波电磁参数装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。
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公开(公告)号：CN107091847A
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201710402147.7
申请日：2017-06-01
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N22/00
CPC classification number: G01N22/00
Abstract: 本发明适用于介质材料测量领域，提供了一种介质材料电磁参数测量装置及测量方法，介质材料电磁参数测量装置包括：微波矢量网络分析仪；异型同轴测量夹具；分别连接所述异型同轴测量夹具两端的输入同轴电缆和输出同轴电缆；与微波矢量网络分析仪连接的GPIB数据采集卡、以及与所述GPIB数据采集卡连接的计算机。本发明实施例中的介质材料电磁参数测量装置，通过设置异型同轴测量夹具并在异型同轴测量夹具内设置用于封装测量样品的测试盒，利用了谐振腔法测量精度高和传输/反射法测量频带宽的优点，从而使所述介质材料电磁参数测量装置测量精度高且测量频带宽，通过设置微波矢量网络分析仪和计算机自动分析测量数据，使测量速度快。
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公开(公告)号：CN107091847B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN201710402147.7
申请日：2017-06-01
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N22/00
Abstract: 本发明适用于介质材料测量领域，提供了一种介质材料电磁参数测量装置及测量方法，介质材料电磁参数测量装置包括：微波矢量网络分析仪；异型同轴测量夹具；分别连接所述异型同轴测量夹具两端的输入同轴电缆和输出同轴电缆；与微波矢量网络分析仪连接的GPIB数据采集卡、以及与所述GPIB数据采集卡连接的计算机。本发明实施例中的介质材料电磁参数测量装置，通过设置异型同轴测量夹具并在异型同轴测量夹具内设置用于封装测量样品的测试盒，利用了谐振腔法测量精度高和传输/反射法测量频带宽的优点，从而使所述介质材料电磁参数测量装置测量精度高且测量频带宽，通过设置微波矢量网络分析仪和计算机自动分析测量数据，使测量速度快。
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公开(公告)号：CN206848193U
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201720641017.4
申请日：2017-06-01
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N22/00
Abstract: 本实用新型适用于介质材料测量领域，提供了一种介质材料电磁参数测量装置，介质材料电磁参数测量装置包括：微波矢量网络分析仪；异型同轴测量夹具；分别连接所述异型同轴测量夹具两端的输入同轴电缆和输出同轴电缆；与微波矢量网络分析仪连接的GPIB数据采集卡、以及与所述GPIB数据采集卡连接的计算机。本实用新型实施例中的介质材料电磁参数测量装置，通过设置异型同轴测量夹具并在异型同轴测量夹具内设置用于封装测量样品的测试盒，利用了谐振腔法测量精度高和传输/反射法测量频带宽的优点，从而使所述介质材料电磁参数测量装置测量精度高且测量频带宽，通过设置微波矢量网络分析仪和计算机自动分析测量数据，使测量速度快。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN205786867U
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201620722730.7
申请日：2016-07-11
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种纳米薄膜微波电磁参数测试装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。
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