一种嵌入板结构的连接构件的网格构建方法和结构

    公开(公告)号:CN112182798B

    公开(公告)日:2022-06-21

    申请号:CN202010955400.3

    申请日:2020-09-11

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 吴晓东 马盛林

    Abstract: 本发明公开了一种嵌入板结构的连接构件的网格构建方法和结构,将连接构件在板结构的结构面上表达为简化节点;板结构网格划分为板结构单元和板结构节点,简化节点和板结构节点之间构建有构件单元作为连接构件的等效单元,模拟连接构件在板结构面内的结构响应;构件单元与板结构单元之间设有连接单元实现的结构响应同步,在简化节点坐标位置创建若干复制节点替换板结构单元中的简化节点,本发明的连接构件的等效单元保留构件的物理特征并通过一维单元与板结构单元进行自由度同步及结构响应的传递;板结构单元忽略了嵌入连接构件的几何外形而只保留中心位置信息,划分得到的网格数量大幅减少,大幅减小计算机数值计算规模,提高求解效率,缩短求解时间。

    一种嵌入板结构的连接构件的网格构建方法和结构

    公开(公告)号:CN112182798A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN202010955400.3

    申请日:2020-09-11

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 吴晓东 马盛林

    Abstract: 本发明公开了一种嵌入板结构的连接构件的网格构建方法和结构,将连接构件在板结构的结构面上表达为简化节点;板结构网格划分为板结构单元和板结构节点,简化节点和板结构节点之间构建有构件单元作为连接构件的等效单元,模拟连接构件在板结构面内的结构响应;构件单元与板结构单元之间设有连接单元实现的结构响应同步,在简化节点坐标位置创建若干复制节点替换板结构单元中的简化节点,本发明的连接构件的等效单元保留构件的物理特征并通过一维单元与板结构单元进行自由度同步及结构响应的传递;板结构单元忽略了嵌入连接构件的几何外形而只保留中心位置信息,划分得到的网格数量大幅减少,大幅减小计算机数值计算规模,提高求解效率,缩短求解时间。

    一种微纳结构力学特征参数测量装置、测量板和测量方法

    公开(公告)号:CN112229749B

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN202010909629.3

    申请日:2020-09-02

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 马盛林 吴晓东

    Abstract: 一种微纳结构力学特征参数测量装置、测量板和测量方法,包括固定件、变形放大件和变形传递件;该变形放大件与固定件固定连接,其还设有两支撑条,两支撑条的靠近固定件的位置设有连接点;该变形传递件两相对侧分别与两连接点相连,其上还设有安装部和限位部,该安装部用于夹持待测结构,该限位部固定于安装部两相对侧。可测量微纳结构在一道或多道工艺流程后的力学特征参数,进而获得残余应力情况。

    一种微纳结构力学特征参数测量装置、测量板和测量方法

    公开(公告)号:CN112229749A

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN202010909629.3

    申请日:2020-09-02

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 马盛林 吴晓东

    Abstract: 一种微纳结构力学特征参数测量装置、测量板和测量方法,包括固定件、变形放大件和变形传递件;该变形放大件与固定件固定连接,其还设有两支撑条,两支撑条的靠近固定件的位置设有连接点;该变形传递件两相对侧分别与两连接点相连,其上还设有安装部和限位部,该安装部用于夹持待测结构,该限位部固定于安装部两相对侧。可测量微纳结构在一道或多道工艺流程后的力学特征参数,进而获得残余应力情况。

    一种嵌入基板的微纳连接构件力学特征参数测量装置、测量板和测量方法

    公开(公告)号:CN115728141A

    公开(公告)日:2023-03-03

    申请号:CN202211411507.7

    申请日:2022-11-11

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 马盛林 吴晓东

    Abstract: 本发明涉及微纳设计制造领域,公开了一种嵌入基板的微纳连接构件力学特征参数测量装置、测量板和测量方法。测量装置包括一对装夹件和一个测量件,所述装夹件分别安装于测量件的前后两侧,所述测量件由多个测量结构串联而成,所述测量结构中嵌入待测件。测量板包含一个或多个测量装置。所有测量结构中都包含结构及尺寸完全一致的待测件,通过测量结构合适的结构尺寸组合,测量过程中所有待测件的受力条件完全一致,实现对微纳尺寸的变形的放大。测量板可用于测量微纳连接构件在一道或多道工艺流程后的力学特征参数。

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