微波毫米波三维近场数据采集与成像系统

    公开(公告)号:CN109085585A

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201811147092.0

    申请日:2018-09-29

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 微波毫米波三维近场数据采集与成像系统,属于电磁场测量技术领域。设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台;所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连,三轴运动控制器与线性平移台相连;样品台安装固定在线性平移台上,金属支架设在线性平移台上方;测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。利用高性能长行程线性移动平台及同轴测试探针,可以实现对被测样品周围指定区域不同频率下的电场或者磁场进行逐点扫描,获取相关幅值与相位信息数据,并能通过电脑对场分布数据进行分析处理及成像显示。

    一种微波毫米波三维近场数据采集与成像装置

    公开(公告)号:CN208833903U

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201821600428.X

    申请日:2018-09-29

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种微波毫米波三维近场数据采集与成像装置,属于电磁场测量技术领域。设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台;所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连,三轴运动控制器与线性平移台相连;样品台安装固定在线性平移台上,金属支架设在线性平移台上方;测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。利用高性能长行程线性移动平台及同轴测试探针,可以实现对被测样品周围指定区域不同频率下的电场或者磁场进行逐点扫描,获取相关幅值与相位信息数据,并能通过电脑对场分布数据进行分析处理及成像显示。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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