公开(公告)号：CN103868832A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201410119699.3

申请日：2014-03-27

Applicant: 南通大学

Inventor： 戴兵 ,  袁银男 ,  钱鹏 ,  杨宗岺 ,  韩月

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明涉及一种基于shifrin变换的粒径分布测量方法，对粒径分布进行反演时引入带可调节参数的补偿因子，在不同参数下反演的噪声均基本消失，且分布峰的位置及个数均与标称较为吻合。通过选择调节参数，可以明显改善已有方法在某些情况下反演效果不佳的缺陷。本发明方法的提出，不仅解决了激光粒度测量中噪声大的问题，而且可针对实际测量中的不同情况，改变调节参数，达到更佳的反演测量效果。

公开(公告)号：CN103868832B

公开(公告)日：2015-10-21

申请号：CN201410119699.3

申请日：2014-03-27

Applicant: 南通大学

Inventor： 戴兵 ,  袁银男 ,  钱鹏 ,  杨宗岺 ,  韩月

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明涉及一种基于shifrin变换的粒径分布测量方法，对粒径分布进行反演时引入带可调节参数的补偿因子，在不同参数下反演的噪声均基本消失，且分布峰的位置及个数均与标称较为吻合。通过选择调节参数，可以明显改善已有方法在某些情况下反演效果不佳的缺陷。本发明方法的提出，不仅解决了激光粒度测量中噪声大的问题，而且可针对实际测量中的不同情况，改变调节参数，达到更佳的反演测量效果。