柔性微波薄膜器件的测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117405522A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311363547.3

    申请日:2023-10-20

    Applicant: 南通大学

    Abstract: 本发明提供一种柔性微波薄膜器件的仿真环境下的弯曲、折叠、扭曲测试方法,在设定的湿度环境和温度、汗渍条件下,模拟真实穿戴时的不同条件,使用弯曲测试仪器对柔性微波薄膜器件样品进行弯曲、折叠、扭曲测试;对比不同测试条件下的测试结果,评估柔性微波薄膜器件的性能稳定性和可靠性;根据数据分析结果,得出柔性微波薄膜器件在不同湿度、温度、汗渍环境下的弯曲、折叠、扭曲性能评价结论。

    一种介电温谱测试方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113325044A

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202110270319.6

    申请日:2021-03-12

    Applicant: 南通大学

    Abstract: 本发明属于材料性能测试技术领域,提供了一种介电温谱测试方法。本发明提供的方法在待测对象的温度随时间变化的过程中,持续测量待测对象的介电特性,记录不同温度下的介电频谱,由此获取待测对象的介电温谱。该方法仅需一个温度升高或降低的过程,即可得到薄膜的介电温谱,无需繁琐地在每一个测试温度点下停留一段时间,极大地降低了科研人员的人力成本。由于本发明的方法,薄膜的温度连续、线性地上升或下降,整个过程持续不断,由计算机自动地测量和记录数据,因此,从理论上说,本发明的一个测试的过程所得到的温频参数,即相当于大量的温度点下测量得到的工作频率特性。

    一种介电温谱测试方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113325044B

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202110270319.6

    申请日:2021-03-12

    Applicant: 南通大学

    Abstract: 本发明属于材料性能测试技术领域,提供了一种介电温谱测试方法。本发明提供的方法在待测对象的温度随时间变化的过程中,持续测量待测对象的介电特性,记录不同温度下的介电频谱,由此获取待测对象的介电温谱。该方法仅需一个温度升高或降低的过程,即可得到薄膜的介电温谱,无需繁琐地在每一个测试温度点下停留一段时间,极大地降低了科研人员的人力成本。由于本发明的方法,薄膜的温度连续、线性地上升或下降,整个过程持续不断,由计算机自动地测量和记录数据,因此,从理论上说,本发明的一个测试的过程所得到的温频参数,即相当于大量的温度点下测量得到的工作频率特性。

    基于NFC实现的单向数据传输的可移动存储器及方法

    公开(公告)号:CN113344163A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110563725.1

    申请日:2021-05-24

    Applicant: 南通大学

    Abstract: 本发明揭示了一种基于NFC实现的单向数据传输的可移动存储器,为实现在不同的计算机终端之间或内网外网终端之间安全地单向传输数据,可移动存储器具有NFC模块,预定计算机的可移动存储器接口处设置有NFC标签;采用NFC模块对计算机进行认证,并根据NFC认证的结果,控制可移动存储器中的存储载体的读写状态:若计算机为认证通过的预定计算机,则可移动存储器中的存储载体为可读可写状态,否则可移动存储器中的存储载体为只读状态,可以真正确保内网计算机、特定的计算机的信息安全,又不妨碍内部数据的对外传输,实现了数据安全传输的目的。

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