公开(公告)号：CN109472770A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201811137926.X

申请日：2018-09-27

Applicant: 南通大学

Inventor： 产叶林 ,  胡新平

IPC: G06T7/00 ,  G06K9/46 ,  G06K9/62

Abstract: 本发明的印刷电路板检测中的图像特征点快速匹配算法，包括如下步骤：步骤1）使用FAST算法快速提取大量特征点；步骤2）通过SURF算法进行特征点的矢量描述；步骤3）通过K均值聚类算法减少特征点的数量获得最佳匹配点。有益效果：结合FAST，SURF和K-Means算法的优点，解决了传统PCB图像匹配过程中特征点不足，匹配时间过长，算法可靠性低的问题，并有效地提高了算法的可行性和图像匹配的准确率和效率。

公开(公告)号：CN109472770B

公开(公告)日：2022-04-08

申请号：CN201811137926.X

申请日：2018-09-27

Applicant: 南通大学

Inventor： 产叶林 ,  胡新平

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/46 ,  G06V10/75 ,  G06V10/762 ,  G06K9/62

Abstract: 本发明的印刷电路板检测中的图像特征点快速匹配算法，包括如下步骤：步骤1）使用FAST算法快速提取大量特征点；步骤2）通过SURF算法进行特征点的矢量描述；步骤3）通过K均值聚类算法减少特征点的数量获得最佳匹配点。有益效果：结合FAST，SURF和K‑Means算法的优点，解决了传统PCB图像匹配过程中特征点不足，匹配时间过长，算法可靠性低的问题，并有效地提高了算法的可行性和图像匹配的准确率和效率。