正电子发射断层扫描图像衰减校正方法、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN115661281A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211239300.6

    申请日:2022-10-11

    Abstract: 本发明公开一种正电子发射断层扫描图像衰减校正方法、系统及存储介质,应用于图像处理技术领域,能够提高正电子发射断层扫描图像衰减校正效率和质量。该方法包括:获取第一类型图像、第二类型图像、第一衰减校正图和第二衰减校正图;预处理第一类型图像、第二类型图像、第一衰减校正图和第二衰减校正图得第一增强图像、第二增强图像、第三衰减校正图和第四衰减校正图;将预处理后的图像匹配得第一匹配数据和第二匹配数据;通过第一增强图像、第三衰减校正图和第一匹配数据训练预训练神经网络模型得第一网络模型;通过第二增强图像、第四衰减校正图和第二匹配数据训练第一网络模型得目标网络模型;通过目标网络模型校正待校正图像得目标校正图像。

    正电子发射断层扫描图像衰减校正方法、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN115661281B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202211239300.6

    申请日:2022-10-11

    Abstract: 本发明公开一种正电子发射断层扫描图像衰减校正方法、系统及存储介质,应用于图像处理技术领域,能够提高正电子发射断层扫描图像衰减校正效率和质量。该方法包括:获取第一类型图像、第二类型图像、第一衰减校正图和第二衰减校正图;预处理第一类型图像、第二类型图像、第一衰减校正图和第二衰减校正图得第一增强图像、第二增强图像、第三衰减校正图和第四衰减校正图;将预处理后的图像匹配得第一匹配数据和第二匹配数据;通过第一增强图像、第三衰减校正图和第一匹配数据训练预训练神经网络模型得第一网络模型;通过第二增强图像、第四衰减校正图和第二匹配数据训练第一网络模型得目标网络模型;通过目标网络模型校正待校正图像得目标校正图像。

    正电子发射断层扫描参数成像的方法、系统、装置及介质

    公开(公告)号:CN118452960B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202410652204.7

    申请日:2024-05-24

    Abstract: 本发明公开正电子发射断层扫描参数成像的方法、系统、装置及介质,包括:生成采集时段前的第一输入函数、采集时段内的第二输入函数和生成平均活度图像,根据平均活度图得到第一预测图像,若第一预测图像不满足条件,拼接第一输入函数和第二输入函数,得到第三输入函数,根据第三输入函数、第一预测图像、标签图像和乘性变量更新深度神经网络的权重参数,将平均活度图像输入更新后的深度神经网络,得到第二预测图像,若第二预测图像不满足条件,根据第二预测图像、标签图像和乘性变量更新标签图像和乘性变量,迭代若干次,直到第二预测图像满足预设条件,输出第二预测图像。本发明能提高短时间扫描参数成像的图像质量,应用于PET成像技术领域。

    正电子发射断层扫描参数成像的方法、系统、装置及介质

    公开(公告)号:CN118452960A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410652204.7

    申请日:2024-05-24

    Abstract: 本发明公开正电子发射断层扫描参数成像的方法、系统、装置及介质,包括:生成采集时段前的第一输入函数、采集时段内的第二输入函数和生成平均活度图像,根据平均活度图得到第一预测图像,若第一预测图像不满足条件,拼接第一输入函数和第二输入函数,得到第三输入函数,根据第三输入函数、第一预测图像、标签图像和乘性变量更新深度神经网络的权重参数,将平均活度图像输入更新后的深度神经网络,得到第二预测图像,若第二预测图像不满足条件,根据第二预测图像、标签图像和乘性变量更新标签图像和乘性变量,迭代若干次,直到第二预测图像满足预设条件,输出第二预测图像。本发明能提高短时间扫描参数成像的图像质量,应用于PET成像技术领域。

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