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公开(公告)号:CN119689225A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202510206485.8
申请日:2025-02-25
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明属于超大规模集成电路测试技术领域,公开了一种基于神经网络的TSV测试分组方法,通过自设计神经网络和损失函数结合的方法,将测试约束写入损失函数,利用梯度下降方法不断优化权重以求解固定测试分组数下的具体测试分组方案;并利用改进二分法求解最小测试分组数,提高了分组算法的鲁棒性。通过实验分析证明本发明所提方法,在不规则TSV布局下分组的精确度、运行效率都表现优异。