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公开(公告)号:CN112750911A
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN202110147388.8
申请日:2021-02-03
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
IPC: H01L29/78 , H01L29/40 , H01L29/423 , H01L21/336
Abstract: 本发明公开了一种三向电场可控的LDMOS,包括半导体衬底、埋层、有源区,所述有源区包括半导体漏区、条形半导体漂移区和半导体阱区,所述半导体漏区位于条形半导体漂移区一侧台阶处的上方,所述半导体阱区位于条形半导体漂移区的另一侧;三向控制电极,位于条形半导体漂移区的两侧及表面,所述三向控制电极与条形半导体漂移区之间为介质层;三栅电极,位于沟道区的两侧及顶部,形成三栅结构。本发明还公开了一种三向电场可控的LDMOS制备方法。本发明设置三向控制电极,能够获得较高的击穿电压,有效降低LDMOS的导通电阻;设置三栅电极,提供了良好的沟道控制能力,降低器件关闭时的漏电流,并抑制短沟道效应,大大降低阈值电压的迟滞。
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公开(公告)号:CN112750911B
公开(公告)日:2022-06-17
申请号:CN202110147388.8
申请日:2021-02-03
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
IPC: H01L29/78 , H01L29/40 , H01L29/423 , H01L21/336
Abstract: 本发明公开了一种三向电场可控的LDMOS,包括半导体衬底、埋层、有源区,所述有源区包括半导体漏区、条形半导体漂移区和半导体阱区,所述半导体漏区位于条形半导体漂移区一侧台阶处的上方,所述半导体阱区位于条形半导体漂移区的另一侧;三向控制电极,位于条形半导体漂移区的两侧及表面,所述三向控制电极与条形半导体漂移区之间为介质层;三栅电极,位于沟道区的两侧及顶部,形成三栅结构。本发明还公开了一种三向电场可控的LDMOS制备方法。本发明设置三向控制电极,能够获得较高的击穿电压,有效降低LDMOS的导通电阻;设置三栅电极,提供了良好的沟道控制能力,降低器件关闭时的漏电流,并抑制短沟道效应,大大降低阈值电压的迟滞。
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