一种用于提高RRAM存储器件及存储阵列写数据可靠性的步进式脉冲编程算法及其电路实现方法

    公开(公告)号:CN117457052A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311540894.9

    申请日:2023-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种用于提高RRAM存储器件及RRAM存储阵列写数据可靠性的步进式脉冲编程算法及其电路实现方法,包括FPGA、数模转换器(DAC)、模数转换器(ADC)及外围电路;所述算法的基本原理是使RRAM器件两端产生电压降,从而使RRAM的阻态发生变化;算法所施加在RRAM两端的电压值由低到高依次递增,直到数据写入正确;每个写脉冲之间有一个读脉冲,用于验证写数据的结果,从而提高写数据的可靠性;所述算法的电路实现方法基于FPGA、数模转换器、模数转换器及外围电路。本发明提出的算法可以提高RRAM写数据的可靠性,由于FPGA的硬件可编程特点,可以针对不同的RRAM器件产生合适的读写脉冲,较为灵活,便于科研测试以及产业化应用。

    基于铁电忆阻器的逻辑电路的实现方法

    公开(公告)号:CN115964971A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202211739344.5

    申请日:2022-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于铁电忆阻器的逻辑电路的实现方法,目的在于将高性能的铁电忆阻器应用到逻辑运算中。该方法将铁电忆阻器的伏安特性进行数据拟合,以建立具有铁电忆阻器特性的器件模型,然后通过Cadence Virtuoso工具设计出基于铁电忆阻器的与门、或门、减法器、加法器和比较器一系列基本逻辑电路,并对各个电路进行仿真验证本发明的可靠性。本发明意在将低功耗、快读写速度、耐久性好的铁电忆阻器器件运用到逻辑运算中,具有广阔的前景。

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