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公开(公告)号:CN115469214A
公开(公告)日:2022-12-13
申请号:CN202211342979.1
申请日:2022-10-31
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域,公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路,包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块,每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器,每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO;每个扫描链均匀划分为若干段,同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块,通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭,实现降低电路整体信号翻转数量,从而降低测试功耗;同时,设计了一种控制链,用来给门控时钟模块的门控信号赋值,从而大大降低了需要增加的测试端口数量。
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公开(公告)号:CN115469214B
公开(公告)日:2023-02-14
申请号:CN202211342979.1
申请日:2022-10-31
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域,公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路,包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块,每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器,每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO;每个扫描链均匀划分为若干段,同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块,通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭,实现降低电路整体信号翻转数量,从而降低测试功耗;同时,设计了一种控制链,用来给门控时钟模块的门控信号赋值,从而大大降低了需要增加的测试端口数量。
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