一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路

    公开(公告)号:CN115469214A

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211342979.1

    申请日:2022-10-31

    Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域,公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路,包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块,每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器,每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO;每个扫描链均匀划分为若干段,同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块,通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭,实现降低电路整体信号翻转数量,从而降低测试功耗;同时,设计了一种控制链,用来给门控时钟模块的门控信号赋值,从而大大降低了需要增加的测试端口数量。

    一种低功耗扫描测试方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116381458A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310384905.2

    申请日:2023-04-10

    Abstract: 本发明公开了一种低功耗扫描测试方法,基于触发器测试权重的扫描链优化方法来实现低功耗测试,通过分析出触发器在电路测试中的权重来进行扫描链的重新排序,在扫描链开始处放置具有较高测试权重的触发器,而具有较低测试权重的触发器则放置在扫描链的末端,从而来降低测试功耗。本发明在测试模式中实现了翻转数的显著较低,从而显著的降低了翻转带来的功耗。

    一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路

    公开(公告)号:CN115469214B

    公开(公告)日:2023-02-14

    申请号:CN202211342979.1

    申请日:2022-10-31

    Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域,公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路,包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块,每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器,每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO;每个扫描链均匀划分为若干段,同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块,通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭,实现降低电路整体信号翻转数量,从而降低测试功耗;同时,设计了一种控制链,用来给门控时钟模块的门控信号赋值,从而大大降低了需要增加的测试端口数量。

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