一种金刚石NV轴方向标定装置及方法

    公开(公告)号:CN109709128A

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201910063622.1

    申请日:2019-01-23

    Abstract: 本发明公开一种金刚石NV轴方向标定装置,包括控制装置、信号发生装置、信号分析装置、激光光源、微波调制装置、共聚焦光路和静磁场发生装置,控制装置对信号发生装置、微波调制装置、可调电流源和信号分析装置的工作进行控制;共聚焦光路连接锥形光纤,锥形光纤上设置金刚石颗粒,金刚石颗粒处于电磁场与静磁场发生环境中。本发明还公开一种金刚石NV轴方向标定方法,基于NV色心金刚石每个NV轴向所对应的两条ODMR谱峰的频率差值随静磁场在该NV轴向上的投影强度进行线性变化的特性,通过建立静磁场在NV坐标系下的投影与空间直角坐标下的投影之间的转换关系得到金刚石中NV轴的方向,解决了微米或纳米级金刚石颗粒的NV轴在空间中指向无法确定的问题。

    一种显微偏振光谱分析系统及方法

    公开(公告)号:CN109405971A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811213379.9

    申请日:2018-10-18

    Abstract: 本发明提出了一种显微偏振光谱分析系统,包括白光光源、起偏系统、偏振分析系统和显微成像系统,在所述起偏系统与偏振分析系统之间设置有样品;所述起偏系统包括一个可绕中心轴旋转的光学起偏器;所述偏振分析系统包括偏振分束器以及第一光谱仪和第二光谱仪,所述偏振分束器分别通过光纤与第一光谱仪和第二光谱仪连接;所述显微成像系统包括放置于样品前的物镜和放置于相机前的成像透镜。本发明的系统适用于从紫外到红外的整个光谱区域,构造简单,能够测量整个光谱的磁光特性。

    一种金刚石NV轴方向标定装置及方法

    公开(公告)号:CN109709128B

    公开(公告)日:2021-12-28

    申请号:CN201910063622.1

    申请日:2019-01-23

    Abstract: 本发明公开一种金刚石NV轴方向标定装置,包括控制装置、信号发生装置、信号分析装置、激光光源、微波调制装置、共聚焦光路和静磁场发生装置,控制装置对信号发生装置、微波调制装置、可调电流源和信号分析装置的工作进行控制;共聚焦光路连接锥形光纤,锥形光纤上设置金刚石颗粒,金刚石颗粒处于电磁场与静磁场发生环境中。本发明还公开一种金刚石NV轴方向标定方法,基于NV色心金刚石每个NV轴向所对应的两条ODMR谱峰的频率差值随静磁场在该NV轴向上的投影强度进行线性变化的特性,通过建立静磁场在NV坐标系下的投影与空间直角坐标下的投影之间的转换关系得到金刚石中NV轴的方向,解决了微米或纳米级金刚石颗粒的NV轴在空间中指向无法确定的问题。

    基于微米级金刚石晶体的全光宽带传感器系统及其使用方法

    公开(公告)号:CN109669147A

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201811547828.3

    申请日:2018-12-18

    Abstract: 本发明揭示了一种基于微米级金刚石晶体的全光宽带传感器系统,包括:信号发生组件、信号接收装置、共聚焦光路、静态磁场、三维位移平台、电控位移平台以及计算机;所述信号发生组件包括激光信号发生装置、微波信号发生装置、脉冲信号发生器;所述激光信号发生装置及微波信号发生装置均与所述脉冲信号发生器电性连接并由其控制;所述脉冲信号发生器、信号接收装置以及电控位移平台三者均与所述计算机电性连接并由其控制;所述共聚焦光路的末端与所述三维位移平台相连接,所述三维位移平台上安装有锥形光纤,所述锥形光纤的末端安装有金刚石晶体。本发明空间分辨率高,且不会使所检测磁场产生偏差,对磁场的侵扰小,使用效果优异。

    一种高灵敏度高分辨接触式三维温度场成像系统及方法

    公开(公告)号:CN109238505A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201811172386.9

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 本发明公开一种高灵敏度高分辨接触式三维温度场成像系统,包括控制装置、信号发生装置、信号分析装置、激光极化装置、微波调制装置、共聚焦光路和三维电控位移台;所述控制装置对信号发生装置、微波调制装置、三维电控位移台和信号分析装置的工作进行控制;所述共聚焦光路连接锥形光纤,所述锥形光纤上设置有金刚石颗粒,所述金刚石颗粒处于被测温度场内,所述被测温度场设置在所述三维电控位移台上。本发明还公开一种高灵敏度高分辨接触式三维温度场成像测量方法,相比于传统温度场测量方法,其具有较高的测量灵敏度以及空间分辨率。

    一种基于脉冲调制的微波场定量测试系统及方法

    公开(公告)号:CN109143121A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201810915727.0

    申请日:2018-08-13

    Abstract: 本发明公开一种基于脉冲调制的微波场定量测试系统及方法,包括激光脉冲发生装置、微波信号发生装置、脉冲信号发生器、荧光探测装置、扫描装置和计算机;所述脉冲信号发生器、荧光探测装置、扫描装置分别与计算机电连接;所述激光脉冲发生装置、微波信号发生装置分别与脉冲信号发生器电连接;所述激光脉冲发生装置用于产生激光脉冲信号;所述微波信号发生装置用于产生调制信号和高频微波信号;所述脉冲信号发生器用于产生TTL信号对激光脉冲发生装置和微波信号发生装置进行控制;所述荧光探测装置用于对金刚石产生的荧光进行分析;所述扫描装置用于对待测器件进行扫描。

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