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公开(公告)号：CN119689221A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202510024852.2
申请日：2025-01-07
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种基于多种激励环境的光学传感器ATE测试方法，具体包括利用分选机(Handler)结构将芯片传送至固定测试工位并利专用PCB与弹簧针建立芯片与测试机间电性连，同时，芯片测试机(Tester)建立GPIB通信，在Handler与Tester之间通信以实现测试机在ALS光源测试、PS灰卡测试及CT镂空盖板测试流程时发送命令使Handler将ALS(环境光)、PS(接近光)及CT(串扰)激励环境建立并实现不同激励环境之间的切换，从而实现对光感芯片直流参数和功能的完整覆盖测试流程。其中测试机负责实现测试程序的执行和测试数据输出，handler负责实现测试硬件动作运行。本发明将三种激励环境硬件和三套程序整合在一套测试系统，既优化测试时间，提高测试效率，又减少设备投入，灵活高效。
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