用于波长扫描光学衍射层析成像系统的色差校正方法

    公开(公告)号:CN117871468A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311860707.5

    申请日:2023-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种用于波长扫描光学衍射层析成像系统的色差校正方法。本发明采用超连续谱激光器作为成像系统色差标定的光源,通过声光可调滤波器进行滤波产生不同波长的光垂直照射样品,采集一系列波长扫描照明下的样品强度图。然后将照明光源调整至预定基准波长,采集一组轴向离焦强度堆栈。采用互相关算法依次计算不同波长下采集的强度图像和基准强度堆栈之间的等效离焦距离参数,从而标定成像系统的色差。本发明通过标定的色差计算生成具有色差校正的孔径函数实现色差校正,避免了宽波长扫描范围中色差引起的重建伪影。本发明光路简单,无需对光学衍射层析所使用的成像系统进行复杂的改进,尤其对于基于波长扫描照明的光学衍射层析成像方法,能够显著提升成像质量。

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