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公开(公告)号：CN108956571B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN201810843800.8
申请日：2018-07-27
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于泄露辐射成像在ccd靶面与安装定位面夹角误差的校准方法及装置，包括：照明光源，待测荧光物质，含金属层芯片基底，折射率匹配油，显微物镜，反射镜，偏振元件组，滤光片，聚束透镜，水平滑轨，成像透镜，ccd图像传感器。荧光样品在被照明光源辐照后，产生荧光表面等离激元波并泄露辐射通过含金属层芯片基底，在被显微物镜收集信号后实现荧光成像。期间，照明光源发出的激发光由偏振元件组和滤光片过滤。通过移动成像透镜的位置，提出泄露辐射霍夫变换算法对ccd图像传感器靶面进行检测，完成常规手段不易发现的ccd靶面与安装定位面夹角误差的精确校准。本发明结构简单，适用性强。
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公开(公告)号：CN108956571A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810843800.8
申请日：2018-07-27
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6402
Abstract: 本发明公开了一种基于泄露辐射成像在ccd靶面与安装定位面夹角误差的校准方法及装置，包括：照明光源，待测荧光物质，含金属层芯片基底，折射率匹配油，显微物镜，反射镜，偏振元件组，滤光片，聚束透镜，水平滑轨，成像透镜，ccd图像传感器。荧光样品在被照明光源辐照后，产生荧光表面等离激元波并泄露辐射通过含金属层芯片基底，在被显微物镜收集信号后实现荧光成像。期间，照明光源发出的激发光由偏振元件组和滤光片过滤。通过移动成像透镜的位置，提出泄露辐射霍夫变换算法对ccd图像传感器靶面进行检测，完成常规手段不易发现的ccd靶面与安装定位面夹角误差的精确校准。本发明结构简单，适用性强。
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公开(公告)号：CN208833665U
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201821204443.2
申请日：2018-07-27
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本实用新型公开了一种基于泄露辐射成像的CCD靶面安装校准装置，包括：照明光源，待测荧光物质，含金属层芯片基底，折射率匹配油，显微物镜，反射镜，偏振元件组，滤光片，聚束透镜，水平滑轨，成像透镜，CCD图像传感器。荧光样品在被照明光源辐照后，产生荧光表面等离激元波并泄露辐射通过含金属层芯片基底，在被显微物镜收集信号后实现荧光成像。期间，照明光源发出的激发光由偏振元件组和滤光片过滤。通过移动成像透镜的位置，提出泄露辐射霍夫变换算法对CCD图像传感器靶面进行检测，完成常规手段不易发现的CCD靶面与安装定位面夹角误差的精确校准。本实用新型结构简单，适用性强。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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