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公开(公告)号：CN109932162B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201811571746.2
申请日：2018-12-21
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于白光配准的腔模参数检测方法与装置，检测装置包括待测光学芯片、油浸物镜、带通滤波片、分束镜、成像透镜、CCD图像传感器、配准光源、旋转平台、准直透镜组和偏振膜。待测光学芯片在被激光辐照后，荧光分子受到芯片调制并耦合泄露辐射出荧光，其在被油浸物镜收集后经过带通滤波片、偏振膜、成像透镜完成荧光成像；另一方面，配准光源所发出的光由准直透镜组校正后，由偏振膜和分束镜反射至样品，经过耦合后被收集探测。通过转动旋转平台，可以完成全角度的收集。依据对配准光源所成像和荧光像的配准，完成荧光像中难以准确观察和测量的外边缘值，从而计算出腔膜的相关参数。本发明结构简单，适用性强。
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公开(公告)号：CN108956571A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810843800.8
申请日：2018-07-27
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6402
Abstract: 本发明公开了一种基于泄露辐射成像在ccd靶面与安装定位面夹角误差的校准方法及装置，包括：照明光源，待测荧光物质，含金属层芯片基底，折射率匹配油，显微物镜，反射镜，偏振元件组，滤光片，聚束透镜，水平滑轨，成像透镜，ccd图像传感器。荧光样品在被照明光源辐照后，产生荧光表面等离激元波并泄露辐射通过含金属层芯片基底，在被显微物镜收集信号后实现荧光成像。期间，照明光源发出的激发光由偏振元件组和滤光片过滤。通过移动成像透镜的位置，提出泄露辐射霍夫变换算法对ccd图像传感器靶面进行检测，完成常规手段不易发现的ccd靶面与安装定位面夹角误差的精确校准。本发明结构简单，适用性强。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109724955A
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201811571732.0
申请日：2018-12-21
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于激发配准的塔姆耦合出射角测算方法与装置，包括：塔姆结构，油浸物镜，白光光源，聚束凸透镜，分束镜，准直凸透镜，短波窄带滤波片，二向色镜，成像透镜，长波窄带滤波片，荧光CCD图像传感器，白光CCD图像传感器。塔姆结构放置于油浸物镜上部，被会聚准直且滤波的白光光源所激发，然后激发光被二向色镜反射回分束镜，最后被白光CCD图像传感器收集。同时，塔姆结构所出射荧光被油浸物镜收集后透过二向色镜和长波窄带滤波片，由成像透镜成像于荧光CCD图像传感器。利用两个CCD图像传感器中所采集不同波长光的表面波模式来选取有效的特征点，实现图像的配准，完成高信噪比下的荧光出射角度的测算。本发明结构简单，实用性强。
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公开(公告)号：CN108956571B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN201810843800.8
申请日：2018-07-27
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于泄露辐射成像在ccd靶面与安装定位面夹角误差的校准方法及装置，包括：照明光源，待测荧光物质，含金属层芯片基底，折射率匹配油，显微物镜，反射镜，偏振元件组，滤光片，聚束透镜，水平滑轨，成像透镜，ccd图像传感器。荧光样品在被照明光源辐照后，产生荧光表面等离激元波并泄露辐射通过含金属层芯片基底，在被显微物镜收集信号后实现荧光成像。期间，照明光源发出的激发光由偏振元件组和滤光片过滤。通过移动成像透镜的位置，提出泄露辐射霍夫变换算法对ccd图像传感器靶面进行检测，完成常规手段不易发现的ccd靶面与安装定位面夹角误差的精确校准。本发明结构简单，适用性强。
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公开(公告)号：CN109724955B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201811571732.0
申请日：2018-12-21
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于激发配准的塔姆耦合出射角测算方法与装置，包括：塔姆结构，油浸物镜，白光光源，聚束凸透镜，分束镜，准直凸透镜，短波窄带滤波片，二向色镜，成像透镜，长波窄带滤波片，荧光CCD图像传感器，白光CCD图像传感器。塔姆结构放置于油浸物镜上部，被会聚准直且滤波的白光光源所激发，然后激发光被二向色镜反射回分束镜，最后被白光CCD图像传感器收集。同时，塔姆结构所出射荧光被油浸物镜收集后透过二向色镜和长波窄带滤波片，由成像透镜成像于荧光CCD图像传感器。利用两个CCD图像传感器中所采集不同波长光的表面波模式来选取有效的特征点，实现图像的配准，完成高信噪比下的荧光出射角度的测算。本发明结构简单，实用性强。
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公开(公告)号：CN109932162A
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201811571746.2
申请日：2018-12-21
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于白光配准的腔模参数检测方法与装置，检测装置包括待测光学芯片、油浸物镜、带通滤波片、分束镜、成像透镜、CCD图像传感器、配准光源、旋转平台、准直透镜组和偏振膜。待测光学芯片在被激光辐照后，荧光分子受到芯片调制并耦合泄露辐射出荧光，其在被油浸物镜收集后经过带通滤波片、偏振膜、成像透镜完成荧光成像；另一方面，配准光源所发出的光由准直透镜组校正后，由偏振膜和分束镜反射至样品，经过耦合后被收集探测。通过转动旋转平台，可以完成全角度的收集。依据对配准光源所成像和荧光像的配准，完成荧光像中难以准确观察和测量的外边缘值，从而计算出腔膜的相关参数。本发明结构简单，适用性强。
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公开(公告)号：CN208833665U
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201821204443.2
申请日：2018-07-27
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本实用新型公开了一种基于泄露辐射成像的CCD靶面安装校准装置，包括：照明光源，待测荧光物质，含金属层芯片基底，折射率匹配油，显微物镜，反射镜，偏振元件组，滤光片，聚束透镜，水平滑轨，成像透镜，CCD图像传感器。荧光样品在被照明光源辐照后，产生荧光表面等离激元波并泄露辐射通过含金属层芯片基底，在被显微物镜收集信号后实现荧光成像。期间，照明光源发出的激发光由偏振元件组和滤光片过滤。通过移动成像透镜的位置，提出泄露辐射霍夫变换算法对CCD图像传感器靶面进行检测，完成常规手段不易发现的CCD靶面与安装定位面夹角误差的精确校准。本实用新型结构简单，适用性强。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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