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公开(公告)号:CN115755367A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211517512.6
申请日:2022-11-30
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种中远距离激光光斑获取的对准系统及方法,其中望远瞄准模块设置在探测平面一侧,并与上位机连接,所述十字靶标模块设置在激光器一侧,望远瞄准模块在上位机的控制下通过十字靶标模块完成探测平面与激光器的双向对准。首先将望远瞄准模块设置在探测平面一侧,并开启靶面上的信号灯,将十字靶标模块设置在待测激光器处并开启,基于靶标的信号灯进行靶面和十字靶标模块中的十字靶标的粗对准,之后基于上位机中的十字标进行望远瞄准模块中望远镜头和十字靶标的精对准,完成对准。本发明解决了中远距离外场测试激光器中测试系统难以搭建的问题,为目前外场的激光器测试系统提供了一种精确度高、成本低、自动化程度较高的解决方案。
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公开(公告)号:CN114441478A
公开(公告)日:2022-05-06
申请号:CN202210364279.6
申请日:2022-04-08
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于可调宽波段激光的晶体双折射测试系统,包括激光器、光路单元、电信号处理单元、数据处理单元;本发明采用相位延迟变化量作为晶体应力双折射的衡量指标,利用能够实时比较出晶体加压时和非加压时双折射相位延迟量偏差程度的光路单元,结合电信号处理单元和数据处理单元实现同时测量不同波段激光照射下的加压和非加压两种状态下的晶体材料光弹系数,实现宽波段可调激光下晶体差值压力状态与非加压状态下的双折射测量和相位延迟量偏差程度比较。本发明测量精度高,结构简单,容易实现,有效弥补了现有技术中晶体材料在加压条件下进行应力双折射测试的空白。
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公开(公告)号:CN114441478B
公开(公告)日:2022-06-21
申请号:CN202210364279.6
申请日:2022-04-08
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于可调宽波段激光的晶体双折射测试系统,包括激光器、光路单元、电信号处理单元、数据处理单元;本发明采用相位延迟变化量作为晶体应力双折射的衡量指标,利用能够实时比较出晶体加压时和非加压时双折射相位延迟量偏差程度的光路单元,结合电信号处理单元和数据处理单元实现同时测量不同波段激光照射下的加压和非加压两种状态下的晶体材料光弹系数,实现宽波段可调激光下晶体差值压力状态与非加压状态下的双折射测量和相位延迟量偏差程度比较。本发明测量精度高,结构简单,容易实现,有效弥补了现有技术中晶体材料在加压条件下进行应力双折射测试的空白。
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