一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法

    公开(公告)号:CN112213331B

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202011276395.X

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本发明属于测试计量技术及仪器技术领域,尤其是一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法,装置包括上位机、照明模块、成像模块、电动扫描平移台、运动控制器以及为上述部件供电的电源模块,电动扫描平移台为立式的,具有纵向导轨,成像模块安装于纵向导轨上,待测光学元件位于成像模块下方,照明模块位于待测光学元件侧部,运动控制器分别线路连接上位机、照明模块、成像模块、电动扫描平移台;本发明通过机器视觉技术获得不同聚焦状态时的缺陷散射图像,进而基于数据库查找及进化算法反演缺陷形状与参数,适用于精密光学元件表明波长级缺陷的质检工作。

    一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法

    公开(公告)号:CN112213331A

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN202011276395.X

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本发明属于测试计量技术及仪器技术领域,尤其是一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法,装置包括上位机、照明模块、成像模块、电动扫描平移台、运动控制器以及为上述部件供电的电源模块,电动扫描平移台为立式的,具有纵向导轨,成像模块安装于纵向导轨上,待测光学元件位于成像模块下方,照明模块位于待测光学元件侧部,运动控制器分别线路连接上位机、照明模块、成像模块、电动扫描平移台;本发明通过机器视觉技术获得不同聚焦状态时的缺陷散射图像,进而基于数据库查找及进化算法反演缺陷形状与参数,适用于精密光学元件表明波长级缺陷的质检工作。

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