一种基于改进的YOLOv9的PCB缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN119992284A

    公开(公告)日:2025-05-13

    申请号:CN202510078943.4

    申请日:2025-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于改进的YOLOv9的PCB缺陷检测方法,包括:采集多张有瑕疵的PCB板图像,对每张图像做好缺陷标签,构成PCB瑕疵数据集;构建改进的YOLOv9缺陷检测模型;用PCB瑕疵数据集对改进的YOLOv9缺陷检测模型进行训练;用训练完成的改进的YOLOv9缺陷检测模型对待测PCB板图像进行缺陷检测。本发明提出的改进的YOLOv9缺陷检测模型,设计新型的RepNCSPELAN4AKConv模块,增强了整体网络的特征提取能力,提高了检测精度同时缩减了模型大小;设计新型的SPD_ADown模块,在保持参数量稳定的情况下提高了PCB缺陷检测的精度;检测效率高,检测结果稳定且精度高。

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