一种用于PIV实验通过限制入射激光路径、自定义拍摄区域的防反光装置及使用方法

    公开(公告)号:CN113125801A

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN202110445421.5

    申请日:2021-04-23

    Abstract: 一种用于PIV实验通过限制入射激光路径、自定义拍摄区域的防反光装置及使用方法,属于宏观PIV技术领域。本发明由支柱部分、定位杆部分、限制入射激光部分和拍摄口部分组成。本发明利用对入射激光的限制和对拍摄口的控制相结合,限制入射激光与被测柱体最大截面重合,且激光厚度限制在0.6mm以下,大大减少了因被测柱体曲面结构反射激光造成的强反光点;对拍摄口的形状大小的调节,在遮住不可避免的强反光点的基础上可随意调节拍摄区域的大小、形状。本发明可以根据不同尺寸、形状被测柱体做出相应调整,可实现对不同柱体PIV拍摄要求,降低了激光对焦难度,避免了反光问题对摄像头的损伤和实验结果的影响。保障实验可以顺利开展。

Patent Agency Ranking