一种p型铱镓氧合金外延薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN118563421A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202410657041.1

    申请日:2024-05-24

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种p型铱镓氧合金外延薄膜及其制备方法,所述p型铱镓氧合金外延薄膜的化学式为(IrxGa1‑x)2O3,且x≤0.05;其晶相为α相、ε相、β相中的一种。α‑Ir2O3为六方刚玉结构,Ir3+离子仅占据八面体位置。在高Ga组分(IrxGa1‑x)2O3(x≤0.05)外延薄膜中,可通过Ir3+离子仅取代占据八面体位置的Ga3+离子的前提下实现晶相调控,具体通过改变Mist‑CVD中衬底温度实现(IrxGa1‑x)2O3(x≤0.05)外延薄膜的晶相调控,实现与α‑Ga2O3、ε‑Ga2O3、β‑Ga2O3晶型匹配且晶格失配极小的目标,是晶体结构复杂的Ga2O3的理想p型材料制备方案,为进一步开发Ga2O3在功率器件及射频器件领域的新型结构提供了坚实的基础。

    一种具有κ-Ga2O3/Al2O3复合铁电介质层的负电容晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN119230597B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202411759891.9

    申请日:2024-12-03

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种具有κ‑Ga2O3/Al2O3复合铁电介质层的负电容晶体管及其制备方法。本发明的负电容晶体管包括从下至上依次设置的衬底,GaN缓冲层,UID‑GaN沟道层,Al0.25Ga0.75N势垒层,以及设置在Al0.25Ga0.75N势垒层上的源电极、漏电极和栅极,以及设置在栅极和Al0.25Ga0.75N势垒层之间的κ‑Ga2O3/Al2O3复合铁电介质层。本发明的负电容晶体管能够实现易失性与非易失性存储的结合,从而在保证高速数据处理能力的同时,提高系统的稳定性与断电后的数据保存可靠性,为全储备池的应用提供高效的数据管理支持。

    一种具有κ-Ga2O3/Al2O3复合铁电介质层的负电容晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN119230597A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411759891.9

    申请日:2024-12-03

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种具有κ‑Ga2O3/Al2O3复合铁电介质层的负电容晶体管及其制备方法。本发明的负电容晶体管包括从下至上依次设置的衬底,GaN缓冲层,UID‑GaN沟道层,Al0.25Ga0.75N势垒层,以及设置在Al0.25Ga0.75N势垒层上的源电极、漏电极和栅极,以及设置在栅极和Al0.25Ga0.75N势垒层之间的κ‑Ga2O3/Al2O3复合铁电介质层。本发明的负电容晶体管能够实现易失性与非易失性存储的结合,从而在保证高速数据处理能力的同时,提高系统的稳定性与断电后的数据保存可靠性,为全储备池的应用提供高效的数据管理支持。

Patent Agency Ranking