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公开(公告)号：CN111130652A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911411328.1
申请日：2019-12-31
Applicant: 南京大学
IPC: H04B10/70 , H04B10/516 , H04B10/508 , H04B10/50 , G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种光子数分辨增强激光通信系统及方法，系统包括控制器、波形发生器、脉冲激光源、可调衰减器、阵列超导纳米线单光子探测器、功率放大器、功率合成器、模数转换器和示波器，控制器对需要输出的数据进行编码调制，并输入至波形发生器，波形发生器将编码信息转化为电脉冲信号输出至脉冲激光源，脉冲激光源根据输入的电脉冲信号产生对应的光脉冲信号，然后经过可调衰减器输入阵列超导纳米线单光子探测器，经过功率放大器和功率合成器后输出具备光子数分辨的信号，最终信号经模数转换器整形后被示波器接收采集下来。本发明极大地降低由于外部光学空间噪声和超导探测器自有暗噪声带来的误码干扰，使得误码率逼近光通信的自有光量子误码极限。
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公开(公告)号：CN111721408B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202010595694.3
申请日：2020-06-28
Applicant: 南京大学
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明公开了一种基于超导纳米线光子探测阵列的电荷积分成像方法，采用超导纳米线单光子探测器作为阵元，组成超导纳米线光子探测阵列，阵元的数量可调整；采用透镜阵列作为光学对位系统，将透射光分成与阵元数量相等的多光束，分别汇聚到超导纳米线探测区域；采用脉冲式激光器探测物体表面，将物体表面反射的不同光脉冲透过透镜阵列，记录每个光子的往返时间；采集各阵元探测的光子数，将阵元作为像元，由阵元的光子数计算像元的灰度值；将像元作为像素点绘制灰度图，由每个光子的往返时间计算物体和像素点的距离，根据灰度图和物像距离重建物体的三维图像。
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公开(公告)号：CN118032140A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410125572.6
申请日：2024-01-30
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了高时间精度高能射线光子探测器和感光装置及其制备方法，感光装置包括衬底，衬底上设置微米线阵列，微米线阵列包括若干微米线单元，微米线单元包括若干田字形分布且并联的NbN微米线，NbN微米线为若干首尾相连的U形结构，与钛电阻相连；微米线阵列的周向设置若干复合电极，复合电极与微米线单元相连。本发明在一定程度上兼顾了对γ射线探测的探测效率、信噪比、时间精度、计数率，具有较好的综合探测性能，在4.2K以下温度工作综合性能优异；以铅玻璃切伦科夫辐射体作为γ射线吸收体、再耦合至感光模块的间接探测法，解决超导微条材料有效原子序数低而几乎不与γ射线发生作用的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116929546A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310879934.6
申请日：2023-07-18
Applicant: 南京大学
IPC: G01J1/44 , G01J1/42 , G01J1/00 , H01L31/0304 , H01L31/18
Abstract: 本发明公开了一种大光敏面高计数率超导纳米线单光子探测器及实施方法，包括低动态电感超导纳米线和放电加速偏置读出电路。低动态电感超导纳米线采用中心对称分布和并联纳米线结构；放电加速偏置读出电路是一个三端电路，包括DC端、DC&RF端以及读出端。本发明公开的低动态电感超导纳米线设计方法，可以在显著扩大探测器光敏面的情况下，保持低的动态电感，从而保证探测器高的计数率，同时放电加速偏置读出电路能有效缓解探测器在高计数率条件下的闩锁情况，因此，本发明公开的一种大光敏面高计数率超导纳米线单光子探测器对要求大光敏面、高计数率的激光雷达应用具有重要意义。
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公开(公告)号：CN111721408A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010595694.3
申请日：2020-06-28
Applicant: 南京大学
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明采用超导纳米线单光子探测器(SNSPD)作为阵元，组成超导纳米线光子探测阵列，根据探测需要调整阵元的数量；采用透镜阵列作为光学对位系统，将透射光分成与阵元数量相等的多光束，分别汇聚到超导纳米线探测区域；采用脉冲式激光器探测物体表面，将物体表面反射的不同光脉冲透过透镜阵列，记录每个光子的往返时间；采集各阵元探测的光子数，将阵元作为像元，由阵元的光子数计算像元的灰度值；将像元作为像素点绘制灰度图，由每个光子的往返时间计算物体和像素点的距离，根据灰度图和物像距离重建物体的三维图像。
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公开(公告)号：CN114111603B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202111419008.8
申请日：2021-11-26
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种器件微区工艺测量和校正方法，首先，构建器件微区工艺测量系统；将待测样品放置在位移平台上，保证待测样品的水平度；其次，根据图像显示设备提供的信息，来判断待测样品上的目标区域的位置，用位移平台进行调节待测样品的位置；图像采集设备负责采集待测样品的目标区域内的RGB值，传递给图像处理装置；然后，图像处理装置利用加权算法将颜色通道数值转换成灰度值，降低变量的数量，提高处理速度；最后，用电子束曝光机制备纳米图案的制备并验证。本发明提高了可操作性和成品率；可以更加准确地分析同一个样品上不同位置的薄胶均匀性，从而解决了传统方式依赖贵重设备和操作不便性的问题，提高了整体微纳加工工艺的时效性和可控性。
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公开(公告)号：CN114111603A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111419008.8
申请日：2021-11-26
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种器件微区工艺测量和校正方法，首先，构建器件微区工艺测量系统；将待测样品放置在位移平台上，保证待测样品的水平度；其次，根据图像显示设备提供的信息，来判断待测样品上的目标区域的位置，用位移平台进行调节待测样品的位置；图像采集设备负责采集待测样品的目标区域内的RGB值，传递给图像处理装置；然后，图像处理装置利用加权算法将颜色通道数值转换成灰度值，降低变量的数量，提高处理速度；最后，用电子束曝光机制备纳米图案的制备并验证。本发明提高了可操作性和成品率；可以更加准确地分析同一个样品上不同位置的薄胶均匀性，从而解决了传统方式依赖贵重设备和操作不便性的问题，提高了整体微纳加工工艺的时效性和可控性。
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公开(公告)号：CN111130652B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201911411328.1
申请日：2019-12-31
Applicant: 南京大学
IPC: H04B10/70 , H04B10/516 , H04B10/508 , H04B10/50 , G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种光子数分辨增强激光通信系统及方法，系统包括控制器、波形发生器、脉冲激光源、可调衰减器、阵列超导纳米线单光子探测器、功率放大器、功率合成器、模数转换器和示波器，控制器对需要输出的数据进行编码调制，并输入至波形发生器，波形发生器将编码信息转化为电脉冲信号输出至脉冲激光源，脉冲激光源根据输入的电脉冲信号产生对应的光脉冲信号，然后经过可调衰减器输入阵列超导纳米线单光子探测器，经过功率放大器和功率合成器后输出具备光子数分辨的信号，最终信号经模数转换器整形后被示波器接收采集下来。本发明极大地降低由于外部光学空间噪声和超导探测器自有暗噪声带来的误码干扰，使得误码率逼近光通信的自有光量子误码极限。
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