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公开(公告)号:CN119322245A
公开(公告)日:2025-01-17
申请号:CN202411466433.6
申请日:2024-10-21
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种面向多种新原理器件阵列的阵列测试装置,包括阵列测试主板、半导体参数分析仪、上位机,阵列测试主板包括微控制器、多块矩阵开关板卡,矩阵开关板卡包括移位寄存器、继电器组阵列,其中继电器组的公共端与待测阵列连接,接点端为与半导体参数分析仪连接的SMU端、无电学连接的Float端、连接外部源表的Vref端和GND端;微控制器接收上位机通信指令,向各矩阵开关板卡上的移位寄存器串行发送控制信号,移位寄存器再向所在矩阵开关板卡上继电器组的控制端口并行输出控制信号,通过继电器组的开关切换实现半导体参数分析仪对待测阵列上的器件进行测试。本发明所述装置具有可扩展性,能够对多种类新原理器件阵列高效测量,同时降低了各类噪声对待测信号的影响以及串扰影响,提高了测试精度。
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公开(公告)号:CN119383487A
公开(公告)日:2025-01-28
申请号:CN202411491448.8
申请日:2024-10-24
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于像素级ADC架构的数字像素阵列传感器及其概率化图像采集方法,该传感器包括数字像素阵列,数字像素阵列的每个像素单元包含模数转换器,所述模数转换器内置有比较器和锁存器,比较器用于比较像素单元积分电容上的电压与预设的参考电压,锁存器用于锁存比较器的比较结果;该方法为基于概率化采样方法确定一个长度为N的参考电压序列;基于参考电压序列,利用数字像素阵列传感器进行图像采集,获得N张二值图像;基于二值化图像进行灰度图像的重建。本发明通过调整参考电压的分布,可以选择性地对场景中不同的亮暗区域进行更精细的模拟数字转换。
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