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公开(公告)号：CN119937363A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202411843973.1
申请日：2024-12-15
Applicant: 南京国博电子股份有限公司
IPC: G05B19/042 , G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种射频微系统测试一体化BIT自检系统，包括BIT核心模块、通信模块、继电器模块、供电模块、电平转换模块、输入/输出接口模块、BIT自检软件模块；所述BIT核心模块与所述通信模块、继电器模块、供电模块、电平转换模块以及输入/输出接口模块连接；所述输入/输出接口模块与所述继电器模块、电平转换模块连接；所述BIT自检软件模块与所述通信模块连接。优点：实现射频微系统测试系统在电性能测试、功能性测试两种测试模式之间的灵活切换，适合当前射频微系统的测试筛选的需求，具有可重构、可扩展、集成度高的特点。优化了测试系统的加电与通信方式，提高了测试的便捷性，减少直流电源的使用，降低测试系统的成本。
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