一种相控阵电子装备外场标校方法

    公开(公告)号:CN113504518B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202110771274.0

    申请日:2021-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种相控阵电子装备外场标校方法,通过保持相控阵电子装备不动,采用一个可移动、可伸缩的标校升降塔车承载信号源;通过塔车左右移位来满足相控阵天线方位上的最大扫描角波束指向测试,通过塔车的高度伸缩来适应相控阵天线垂直方向上的最大扫描角波束指向测试;本发明在其天线波束不同的空间位置处设置信息源,通过信号源的实际位置信息,即真值和实测角间的差别,来进行误差统计和分析,求出角度测量误差均值,然后对相控阵电子装备进行空间波束指向角误差叠代补偿,消除其系统误差,从而使其满足系统测量精度要求;本发明不但解决了相控阵电子装备标校难的问题,且经济、有效和快速。

    一种相控阵电子装备外场标校方法

    公开(公告)号:CN113504518A

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN202110771274.0

    申请日:2021-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种相控阵电子装备外场标校方法,通过保持相控阵电子装备不动,采用一个可移动、可伸缩的标校升降塔车承载信号源;通过塔车左右移位来满足相控阵天线方位上的最大扫描角波束指向测试,通过塔车的高度伸缩来适应相控阵天线垂直方向上的最大扫描角波束指向测试;本发明在其天线波束不同的空间位置处设置信息源,通过信号源的实际位置信息,即真值和实测角间的差别,来进行误差统计和分析,求出角度测量误差均值,然后对相控阵电子装备进行空间波束指向角误差叠代补偿,消除其系统误差,从而使其满足系统测量精度要求;本发明不但解决了相控阵电子装备标校难的问题,且经济、有效和快速。

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