晶圆加工系统、装置、方法及晶圆减薄设备

    公开(公告)号:CN117697554A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202410163184.7

    申请日:2024-02-05

    Abstract: 本申请实施例涉及晶圆减薄技术领域,提供了一种晶圆加工系统、装置、方法及晶圆减薄设备,该晶圆加工系统包括承载台、水射流组件、计算机存储介质;承载台,用于放置经过磨削处理且未经过抛光处理的晶圆,并带动晶圆绕晶圆的轴线方向旋转;水射流组件,用于向晶圆的边缘喷射水流,以去除晶圆的崩边;计算机存储介质用于存储计算机程序产品,该计算机程序产品在执行时用于控制承载台和水射流组件执行如下方法:确定经过磨削处理且未经过抛光处理的晶圆被放置在承载台上;控制承载台带动晶圆绕晶圆的轴线方向转动,并且控制水射流组件向晶圆的边缘喷射水流,以去除晶圆的崩边。

    具有自适应性的抛光头
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108044484B

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN201810002749.8

    申请日:2018-01-02

    Abstract: 本发明公开了一种具有自适应性的抛光头,包括:枢轴组件、基体及夹片组件,枢轴组件由轴体及盘体组成,基体上设置有适于与轴体配合的轴孔,夹片组件上设置有适于与盘体配合的凹槽;枢轴组件上的轴体与基体上的轴孔配合设置,枢轴组件上的盘体设置在夹片组件上的凹槽内;盘体的外周壁设有环形凸缘,环形凸缘的外周面与凹槽的内周壁线接触。根据本发明的具有自适应性的抛光头,能够保证抛光头的定心功能,提高抛光头稳定性和自适应性。

    一种晶圆后处理装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117524925A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311462302.6

    申请日:2023-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种晶圆后处理装置,其包括:箱体;夹持组件,设置于箱体中,用于夹持并驱动晶圆旋转;滚刷,设置于箱体中,用于晶圆的刷洗;导液组件,其能够移动至滚刷下侧,以盛接和/或导引滚刷掉落的液滴而防止污染晶圆。

    晶圆承载装置及化学机械抛光设备

    公开(公告)号:CN117506714A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311784996.5

    申请日:2023-12-22

    Abstract: 本申请提供一种晶圆承载装置及化学机械抛光设备。晶圆承载装置用于化学机械抛光设备,其包括:承载盘、导向轴和驱动组件;承载盘,用于承载晶圆,其上设置有第一通孔;导向轴固定于化学机械抛光设备的设备主体并穿设于第一通孔,且导向轴包括相连接的第一部分和第二部分;驱动组件驱动承载盘沿导向轴移动;在承载盘移动至第一部分穿设于第一通孔时,第一部分抑制承载盘产生偏离第一部分的轴向的移动;在承载盘移动至第一部分退出第一通孔、且第二部分穿设于第一通孔时,导向轴与第一通孔之间形成浮动间隙,以使承载盘能够通过浮动间隙,产生偏离第二部分的轴向的移动,以调整承载盘的位姿。

    用于晶圆载置的真空吸盘系统

    公开(公告)号:CN112071797B

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202010919971.1

    申请日:2020-09-04

    Abstract: 本发明公开了一种用于晶圆载置的真空吸盘系统,包括用于吸附并保持晶圆的吸盘、第一密封腔室、第二密封腔室、第一电磁阀、第二电磁阀和第三电磁阀;吸盘通过管路依次连接第一密封腔室、第一电磁阀、第二密封腔室和第二电磁阀,第一密封腔室连接负压源从而为吸盘提供持续的吸附力并将从吸盘吸引的气体与液体、固体颗粒分离,第二密封腔室分别连接负压源和正压源以在第二密封腔室连通负压源并且第一电磁阀导通时从第一密封腔室吸引液体和/或固体颗粒以及在第二密封腔室连通正压源并且第二电磁阀导通时将其中的液体和/或固体颗粒排出;第二密封腔室的气路端口和负压源之间连接第三电磁阀。

Patent Agency Ranking