基于虚拟仪器控制的发光二极管寿命测试方法及系统

    公开(公告)号:CN101900786A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN201010194312.2

    申请日:2010-06-02

    Abstract: 本发明公开一种基于虚拟仪器控制的发光二极管寿命测试方法及系统,由计算机内的控制模块控制恒流恒压源输出,驱动发光二极管发光,计算机内的控制模块通过温度湿度控制箱控制发光二极管寿命测试时的温度湿度环境;光传感器采集发光二极管的亮度并转换为电信号即亮度值输出,计算机控制电信号采集装置实时批量采集亮度值并反馈给计算机内的亮度分析模块;亮度分析模块对电信号采集装置批量采集到的电信号,进行抽样分析判断,存储并输出测试分析结果;发光二极管的寿命测试包括恒定电流、恒定电压和恒定光强三种测试模式。本发明适用于有机/无机发光二极管,安全性、可靠性高,测试准确度高。

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