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公开(公告)号：CN103048603A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201210548992.2
申请日：2012-12-17
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统及其测试方法，所述电路系统包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。本发明的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，且具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103048603B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201210548992.2
申请日：2012-12-17
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统及其测试方法，所述电路系统包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。本发明的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，且具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。
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公开(公告)号：CN103760483A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201410007644.3
申请日：2014-01-07
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种OLED器件光电特性测试系统，包括用于提供人机交互界面和发出指令的计算机；用于接受计算机发出的指令并输出交流脉冲控制信号及反馈方式控制信号并与多通道ADC、DAC1、DAC2进行通信的单片机；用于将从交流驱动电路采集到的模拟信号转换为数字信号并传送给单片机的多通道ADC；用于将单片机的控制信号转换为模拟信号并传送给OLED驱动与采集电路的DAC1、DAC2;用于接受交流脉冲控制信号和反馈方式控制信号输出测试结果的OLED驱动与采集电路；以及用于提供参考电压的电压参考源和用于校正的温度传感器。本发明的系统，电路系统结构合理、成本较低，通过恒压、恒流、恒亮这三个模式来测量OLED的光电特性，且具有测试速度快、精度高以及良好的可靠性等优点。
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公开(公告)号：CN203037782U
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201220699350.8
申请日：2012-12-17
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01R31/01
Abstract: 本实用新型公开了一种批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，包括机柜、设置在机柜内的多层滑动式抽屉、信号转接模块以及用于控制器件工作的计算机，所述计算机通过第一线缆与信号转接模块连接，所述每一层抽屉内固定有器件测试模块，在所述每块器件测试模块上安装有若干个用于放置待测试器件的测试盒，所述每一层抽屉内的器件测试模块通过第二线缆与信号转接模块连接。本实用新型可以同时对批量的发光二极管器件进行测试，且结构简单，布局紧凑，实施方便，易于维修检查，解决了现有设备器件安装及取下器件不方便，难以满足批量测试要求的技术问题，具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN203688743U
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201420008791.8
申请日：2014-01-07
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本实用新型公开了一种OLED器件光电特性测试系统，包括用于提供人机交互界面和发出指令的计算机；用于接受计算机发出的指令并输出交流脉冲控制信号及反馈方式控制信号并与多通道ADC、DAC1、DAC2进行通信的单片机；用于将从交流驱动电路采集到的模拟信号转换为数字信号并传送给单片机的多通道ADC；用于将单片机的控制信号转换为模拟信号并传送给OLED驱动与采集电路的DAC1、DAC2;用于接受交流脉冲控制信号和反馈方式控制信号输出测试结果的OLED驱动与采集电路；以及用于提供参考电压的电压参考源和用于校正的温度传感器。本实用新型的系统，电路系统结构合理、成本较低，通过恒压、恒流、恒亮这三个模式来测量OLED的光电特性，且具有测试速度快、精度高以及良好的可靠性等优点。
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公开(公告)号：CN203037816U
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201220699347.6
申请日：2012-12-17
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本实用新型公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统，包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。本实用新型的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，且具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。
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