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公开(公告)号:CN102969393A
公开(公告)日:2013-03-13
申请号:CN201210401751.5
申请日:2012-10-19
Applicant: 华南理工大学
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明公开了一种基底上ITO薄膜图案化方法,包括以下步骤:(1)在基底上沉积好一层ITO薄膜;(2)将贴膜紧密地贴合于步骤(1)的ITO薄膜之上,并且去除贴膜与ITO薄膜之间的气泡,其中贴膜为被图案化的;(3)通过湿法刻蚀去除步骤(2)中没有被贴膜保护到ITO薄膜部分;(4)撕去贴膜,得到图案化ITO薄膜。本发明ITO薄膜图案化方法具有步骤简单、成本低等优点,并且适合在柔性基底上使用,能够有效的防止由于柔性基底卷曲而导致ITO薄膜被刻花以及出现断路和短路的现象。