基于Faster-RCNN模型的元器件弱缺陷高精度检测方法

    公开(公告)号:CN116596837A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310235751.0

    申请日:2023-03-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于Faster‑RCNN模型的元器件弱缺陷高精度检测方法,包括:1)元器件图像采集;2)对原始图像进行双线性插值,得到为原图两倍大小的超尺度图;3)对原图进行特征提取,得到原图特征;对超尺度图做特征提取,得到超尺度图特征;4)对超尺度图特征进行最大值下采样,与原图特征对齐;5)将超尺度图特征与原图特征进行拼接融合;6)将融合后的特征图输入检测头,进行缺陷的定位及分类。本发明基于Faster‑RCNN模型对电子元器件缺陷检测,加强了对弱缺陷的检测能力,缓解了现有技术对元器件弱缺陷检测精度不高的问题,提高了元器件缺陷的整体检测精度。

    基于Retinex理论和端到端深度网络的水下图像复原方法

    公开(公告)号:CN113012067B

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202110279385.X

    申请日:2021-03-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于Retinex理论和端到端深度网络的水下图像复原方法,包括:1)简化Jaffe‑McGlamery水下成像模型,以符合Retinex理论基本假设;2)依据简化的Jaffe‑McGlamery水下成像模型以及环境光图空间平滑的先验条件估计环境光图,分解粗略场景反射率图;3)设计端到端深度网络实现水下图像的精细化复原;4)将粗略场景反射率图输入到端到端深度网络中进行训练,得到最优的端到端深度网络,最后,将待测的粗略场景反射率图输入到最优的端到端深度网络,网络的输出即为复原的水下图像。本发明消除光在水下传播时衰减和散射对成像过程的影响,以改善图像的视觉效果,有效恢复水下图像视觉质量。

    一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN116596838A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310235760.X

    申请日:2023-03-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法,包括:1)采集待检测的元器件的RGB图像;2)将RGB图像通过缺陷空间映射网络,得到缺陷空间映射图;3)得到RGB图像的关键点坐标;将缺陷空间映射图分别输入区域建议网络和主干网络,获得ROI区域和感兴趣区域ROIs;将缺陷空间映射图进行超像素快速分割,得到多背景区域;4)通过ROIs找到其相交背景区域,进行区域特征融合;5)将ROIs与关键点坐标进行比对,得到双近邻ROI区域特征,比对双近邻ROI区域特征,将比对结果向量作为ROIs的特征向量;6)将特征向量送入全连接层,进行分类与边框回归,识别出检测对象的类别和位置并标注。本发明实现了对工业检测场景下元器件表面弱缺陷的高精度检测。

    基于Retinex理论和端到端深度网络的水下图像复原方法

    公开(公告)号:CN113012067A

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202110279385.X

    申请日:2021-03-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于Retinex理论和端到端深度网络的水下图像复原方法,包括:1)简化Jaffe‑McGlamery水下成像模型,以符合Retinex理论基本假设;2)依据简化的Jaffe‑McGlamery水下成像模型以及环境光图空间平滑的先验条件估计环境光图,分解粗略场景反射率图;3)设计端到端深度网络实现水下图像的精细化复原;4)将粗略场景反射率图输入到端到端深度网络中进行训练,得到最优的端到端深度网络,最后,将待测的粗略场景反射率图输入到最优的端到端深度网络,网络的输出即为复原的水下图像。本发明消除光在水下传播时衰减和散射对成像过程的影响,以改善图像的视觉效果,有效恢复水下图像视觉质量。

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