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公开(公告)号：CN106447633A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610852508.3
申请日：2016-09-26
Applicant: 华南理工大学
CPC classification number: G06T5/002 , G06T5/20 , G06T2207/10116 , G06T2207/20192
Abstract: 本发明公开的面向集成电路封装检测的微焦点X射线图像的去噪方法，包含以下顺序的步骤：对输入图像的高斯预处理；利用差分曲率图将微焦点X射线观测图像分为平坦区和细节区；利用分区结果及差分曲率计算正则化算子及正则化参数；构建目标函数，利用基于近似的变步长算法对目标函数进行快速迭代求解。本发明的去噪方法，利用基于近似的变步长快速迭代求解算法求解，算法速度快，满足实际工业要求。
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公开(公告)号：CN103491698A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310455201.6
申请日：2013-09-29
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种微聚焦X射线源动态焦点控制方法，该方法通过检测装置对X射线焦点进行实时监测，根据监测数据决定是否需要重设焦点尺寸，当焦点大于6μm时，ARM下位机查找内建的焦点与输出功率对应关系表得到相应的管电压和管电流参数，并将其发送至高频高压发生器，高频高压发生器根据接收到的数据调节管电压、电流从而实现调焦，最终达到焦点的动态范围稳定于2-6μm目的，突破封闭式微聚焦X射线难以突破5μm以下的难题。本发明能控制X射线焦点稳定于6μm以下，特别适用于要求高分辨率X光图的精密检测系统。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN115984246A
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202310080768.3
申请日：2023-01-17
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明属于机器视觉技术领域，公开了一种基于机器视觉的缺陷快速检测方法及装置、设备、存储介质，方法包括将待检测图像划分成若干图像子块；计算每个图像子块的多个相位一致性值，并求每个图像子块的多个相位一致性值的平均值；将平均值较大的指定数量个图像子块作为缺陷子块。该检测方法通过计算图像的相位一致性来检测图像中的边缘，可以不受图像局部光线明暗变化的影响，并能包含图像中的角、线、纹理等信息，尤其在图像边缘对比度比较低时保留边缘信息，从而对图像的亮度、对比度不敏感，可以很好的克服光线明暗所带来的纹理结构影响，进而可以提高基于机器视觉的产品表面缺陷检测的精确度。
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公开(公告)号：CN103500719A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201310455191.6
申请日：2013-09-29
Applicant: 华南理工大学
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明公开了一种基于专家系统的自适应微聚焦X射线检测方法，该方法是首先构建基于X射线源焦点和射线通量关系的知识库和一定的推理机制以建立起该领域合理的专家系统，然后在PC上位机输入当前检测对象材料、精度要求等参数，专家系统据此推理出合适的焦点尺寸参数，并通过以太网发至ARM下位机。ARM下位机将目标焦点对应的输出功率发送至高频高压发生器，高频高压发生器再调节管电压、管电流实现焦点控制，达到自适应调节焦点的目的，从而调整成像系统的分辨率，满足各种检测过程的成像需求。
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公开(公告)号：CN106447633B
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201610852508.3
申请日：2016-09-26
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开的面向集成电路封装检测的微焦点X射线图像的去噪方法，包含以下顺序的步骤：对输入图像的高斯预处理；利用差分曲率图将微焦点X射线观测图像分为平坦区和细节区；利用分区结果及差分曲率计算正则化算子及正则化参数；构建目标函数，利用基于近似的变步长算法对目标函数进行快速迭代求解。本发明的去噪方法，利用基于近似的变步长快速迭代求解算法求解，算法速度快，满足实际工业要求。
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公开(公告)号：CN103491698B
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201310455201.6
申请日：2013-09-29
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种微聚焦X射线源动态焦点控制方法，该方法通过检测装置对X射线焦点进行实时监测，根据监测数据决定是否需要重设焦点尺寸，当焦点大于6μm时，ARM下位机查找内建的焦点与输出功率对应关系表得到相应的管电压和管电流参数，并将其发送至高频高压发生器，高频高压发生器根据接收到的数据调节管电压、电流从而实现调焦，最终达到焦点的动态范围稳定于2-6μm目的，突破封闭式微聚焦X射线难以突破5μm以下的难题。本发明能控制X射线焦点稳定于6μm以下，特别适用于要求高分辨率X光图的精密检测系统。
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