公开(公告)号：CN119827502A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202411792550.1

申请日：2024-12-07

Applicant: 华南农业大学 ,  广州和易思汇电子信息有限公司

Inventor： 孙道宗 ,  吴佩文 ,  陈嘉思 ,  谢家兴 ,  钟宏笙 ,  江浩亮 ,  陈艳明 ,  尧港东 ,  刘振宇

IPC: G01N21/88 ,  G06T7/00 ,  G06V10/14 ,  G06V10/40 ,  G06V10/54 ,  G06V20/62 ,  G06V10/774 ,  G06V10/26 ,  G06V10/764 ,  G06V10/82

Abstract: 本发明涉及人工智能技术，揭露了一种多光源零部件表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：对待检测物件进行多角度照射，并在所述照射的状态下对所述待检测物件进行摄像操作，得到物件图像集合，其中，所述物件图像集合中的各个物件图像上均标记有缺陷文本表述及所述多角度穹顶光源对应的光源阵列；利用多光源表面缺陷识别模型，对所述物件图像集合进行特征提取操作，得到部件纹理特征、文本特征及光源阵列特征，并对所述部件纹理特征、文本特征及光源阵列特征进行表面缺陷识别操作，得到所述待检测物件的物件缺陷。本发明可以解决传统缺陷检测方法在复杂光照场景下难以利用光源参数信息的问题，提高零部件表面缺陷识别精准度。