一种植物茎秆细胞壁超微结构的透射电镜制样方法

    公开(公告)号:CN117191835A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310937936.6

    申请日:2023-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种植物茎秆细胞壁超微结构的透射电镜制样方法,包括依次对植物茎秆样品进行前固定,漂洗,后固定,脱水,渗透,包埋,聚合,切片,收集;所述切片速度为3~5mm/s、切片厚度为150~200nm。本发明通过提高超薄切片速度以及切片厚度,可获得细胞壁褶皱显著减少甚至无褶皱的植物茎秆超薄切片,解决了现有植物茎秆样本超薄切片细胞壁上褶皱多,影响对细胞壁超微结构观察的问题。

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