用于测量光刻图形的方法、装置、设备、介质和程序产品

    公开(公告)号:CN118502199A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202310153394.3

    申请日:2023-02-16

    Abstract: 本公开的实施例提供了用于测量光刻图形的方法、装置、设备、存储介质和程序产品,涉及芯片设计工具领域。所提供的方法包括在光刻图形的多个轮廓段中,确定与对应于光刻图形的设计版图中的测量点关联的至少一个轮廓段,所确定的至少一个轮廓段中的每个轮廓段在扫描方向上的坐标区间包含测量点在扫描方向上的坐标。方法还包括基于测量点和至少一个轮廓段,确定测量方向以及设计版图与光刻图形之间与测量点关联的距离。方法还包括至少基于该距离,确定测量结果。以此方式,通过利用与测量点关联的轮廓段而不是待测量的光刻图形的整个轮廓来确定测量方向以及距离,可以减小测量光刻图形的难度和对计算资源的消耗,以提高芯片设计和制造的效率。

    张量分块方法、装置和存储介质
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115587922A

    公开(公告)日:2023-01-10

    申请号:CN202110760579.1

    申请日:2021-07-06

    Abstract: 本申请涉及一种张量分块方法、装置和存储介质,所述方法包括:将训练数据输入第一模型,所述第一模型用于确定张量在处理器的各缓存模块上的分块策略,所述处理器用于执行所述张量的算子运算,所述训练数据包括对应至少一种算子类型的算子信息;所述第一模型输出第一预测结果,所述第一预测结果满足各缓存模块对应的约束条件;对各缓存模块的第一预测结果的组合进行评价,得到第一评价结果;根据所述第一预测结果的组合和所述第一评价结果,对所述第一模型进行迭代训练,直至满足训练收敛条件,得到训练好的第一模型。根据本申请实施例,可以提高模型泛化性能,在线获取较优的张量分块策略,提高处理器的计算性能。

    一种数据处理的方法以及装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115618811A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202110801920.3

    申请日:2021-07-15

    Abstract: 本申请公开了一种数据处理的方法以及设备,涉及人工智能领域,方法包括:获取待处理数据。对待处理数据进行预处理,以通过第一张量表示待处理数据。通过至少一个编码层对第一张量进行编码,至少一个编码层首尾相连,编码层包括多头注意力层MHA,其中,编码层中的目标编码层的MHA的输入,是根据目标编码层的上一层编码层的全部输出中的部分输出获取的,目标编码层的输出用于获取分类器的输入。通过本申请提供的方案,可以提升包括MHA的编码器的编码效率。

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