公开(公告)号：CN110568470A

公开(公告)日：2019-12-13

申请号：CN201910807064.5

申请日：2019-08-29

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 许剑锋 ,  叶百合子 ,  张熙 ,  解强强 ,  谢思维 ,  彭旗宇

IPC: G01T1/16 ,  G01T1/24

Abstract: 本发明属于晶体探测器领域，并公开了一种优化多面体探测器中离散晶体布局的方法。该方法包括下列步骤：(a)对于多面体探测器，确定其中最小结构单元的形状和外接圆的半径取值范围；(b)绘制多幅网格图，将最小结构单元放置在每幅网格图中，计算每幅网格图中最小结构单元中包括最多填充单元的数量，以此计算最小结构单元的填充率；(c)所有网格图中填充率的最大值对应的网格图中网格的尺寸大小作为最小结构单元的外接圆尺寸，以此获得最小结构单元的尺寸和该最小结构单元的填充率，实现多面体探测器中离散晶体布局的优化。通过本发明，实现多边形探测器中离散晶体的最优布局，提高探测器的有效覆盖面积。

公开(公告)号：CN112656439A

公开(公告)日：2021-04-16

申请号：CN202011505949.9

申请日：2020-12-18

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 许剑锋 ,  解强强 ,  张熙 ,  于洪森 ,  杜菁 ,  谢思维 ,  彭旗宇

IPC: A61B6/03

Abstract: 本发明公开了一种正电子发射成像的位置解码方法及系统，属于医疗影像领域。方法包括利用正电子发射产生的可见光得到多个能量阵列图；判断能量阵列图中是否发生康普顿事件，若是，剔除该能量阵列图，若否，保留该能量阵列图；找到过滤掉康普顿事件后的能量阵列图的峰值，以峰值为中心划分预设大小的局部区域，局部区域外的能量设置为零；在局部区域内利用重心解码算法定位正电子实际发生反应的位置。本发明提供的用于正电子发射成像的位置解码方法通过寻找康普顿事件，有效地过滤掉大量的康普顿散射事件，从而获得有效事件，防止康普顿散射事件影响解码图的效果。同时，局部区域的划分，有效地过滤掉大量环境噪声，使得解码图更为清晰。

公开(公告)号：CN110568470B

公开(公告)日：2020-12-08

申请号：CN201910807064.5

申请日：2019-08-29

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 许剑锋 ,  叶百合子 ,  张熙 ,  解强强 ,  谢思维 ,  彭旗宇

IPC: G01T1/16 ,  G01T1/24

Abstract: 本发明属于晶体探测器领域，并公开了一种优化多面体探测器中离散晶体布局的方法。该方法包括下列步骤：(a)对于多面体探测器，确定其中最小结构单元的形状和外接圆的半径取值范围；(b)绘制多幅网格图，将最小结构单元放置在每幅网格图中，计算每幅网格图中最小结构单元中包括最多填充单元的数量，以此计算最小结构单元的填充率；(c)所有网格图中填充率的最大值对应的网格图中网格的尺寸大小作为最小结构单元的外接圆尺寸，以此获得最小结构单元的尺寸和该最小结构单元的填充率，实现多面体探测器中离散晶体布局的优化。通过本发明，实现多边形探测器中离散晶体的最优布局，提高探测器的有效覆盖面积。

公开(公告)号：CN110926622B

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：CN201911190851.6

申请日：2019-11-28

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 许剑锋 ,  叶百合子 ,  陈肖 ,  解强强 ,  谢思维 ,  彭旗宇

IPC: G01J11/00

Abstract: 本发明属于晶体探测器领域，并具体公开了一种基于片层晶体阵列的高能光子检测装置，包括片层晶体阵列结构和光电传感器阵列层，片层晶体阵列结构由数个片层晶体阵列层叠而成，相邻的片层晶体阵列之间设置有光反射层，且光反射层上开设有透光窗口；光电传感器阵列层与所述片层晶体阵列结构耦合在一起；检测时，高能光子在片层晶体阵列中发生衰减反应，产生可见光子群，该可见光子群由光反射层反射或通过透光窗口进入相邻片层晶体阵列，最终由光电传感器阵列层接收，从而获得光分布情况，进而得到高能光子的反应位置和反应深度，完成检测。本发明片层晶体阵列之间解码过程互不影响，得到与反应深度相关的光分布信息，解码精度高且结构简单。

公开(公告)号：CN110926622A

公开(公告)日：2020-03-27

申请号：CN201911190851.6

申请日：2019-11-28

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 许剑锋 ,  叶百合子 ,  陈肖 ,  解强强 ,  谢思维 ,  彭旗宇

IPC: G01J11/00

Abstract: 本发明属于晶体探测器领域，并具体公开了一种基于片层晶体阵列的高能光子检测装置，包括片层晶体阵列结构和光电传感器阵列层，片层晶体阵列结构由数个片层晶体阵列层叠而成，相邻的片层晶体阵列之间设置有光反射层，且光反射层上开设有透光窗口；光电传感器阵列层与所述片层晶体阵列结构耦合在一起；检测时，高能光子在片层晶体阵列中发生衰减反应，产生可见光子群，该可见光子群由光反射层反射或通过透光窗口进入相邻片层晶体阵列，最终由光电传感器阵列层接收，从而获得光分布情况，进而得到高能光子的反应位置和反应深度，完成检测。本发明片层晶体阵列之间解码过程互不影响，得到与反应深度相关的光分布信息，解码精度高且结构简单。