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公开(公告)号:CN113281572A
公开(公告)日:2021-08-20
申请号:CN202110548840.1
申请日:2021-05-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种材料微波复介电常数和复磁导率测试方法及系统,属于微波、毫米波测试领域,方法包括:获取样品材料在第一测试位置处的第一输入回波损耗、以及在第二测试位置处的第二输入回波损耗;根据样品传输系数和反射系数与第一输入回波损耗、第二输入回波损耗之间的函数关系计算样品传输系数和反射系数,该函数关系基于传输线理论和边界条件建立;根据复介电常数和复磁导率与样品传输系数、反射系数之间的函数关系计算复介电常数和复磁导率。仅基于不同位置处的输入回波损耗S11参数计算复介电常数和复磁导率,测量波束既可垂直入射也可大角度斜入射,还能通过控制测试位置避免现有测试方法中存在厚度谐振的问题。
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公开(公告)号:CN113281572B
公开(公告)日:2022-02-18
申请号:CN202110548840.1
申请日:2021-05-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种材料微波复介电常数和复磁导率测试方法及系统,属于微波、毫米波测试领域,方法包括:获取样品材料在第一测试位置处的第一输入回波损耗、以及在第二测试位置处的第二输入回波损耗;根据样品传输系数和反射系数与第一输入回波损耗、第二输入回波损耗之间的函数关系计算样品传输系数和反射系数,该函数关系基于传输线理论和边界条件建立;根据复介电常数和复磁导率与样品传输系数、反射系数之间的函数关系计算复介电常数和复磁导率。仅基于不同位置处的输入回波损耗S11参数计算复介电常数和复磁导率,测量波束既可垂直入射也可大角度斜入射,还能通过控制测试位置避免现有测试方法中存在厚度谐振的问题。
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