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发明公开
一种基于介质超表面的全stokes偏振测量仪审中-实审

公开(公告)号：CN116358705A

公开(公告)日：2023-06-30

申请号：CN202310433233.X

申请日：2023-04-21

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 杨振宇 , 王舒仪 , 胡铁 , 王仕川 , 赵茗

IPC: G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种基于介质超表面的全stokes偏振测量仪，属于光学器件技术领域。包括一层介质超表面和探测器阵列，探测器阵列位于介质超表面的焦平面处。本发明提供的基于介质超表面的全stokes偏振测量仪，其所依附的设计框架可任意选择感兴趣的目标偏振态和它们各自的聚焦点，可以容易地实现传统设计思路无法实现的正四面体分布的目标偏振态探测。相较于现有的对正多面体分布的六种偏振态探测的设计有着更小的体积，相较于现有的对非正多面体分布的四种偏振态探测的设计有着更小的噪声干扰。

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