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公开(公告)号：CN113909683A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202111191696.7
申请日：2021-10-13
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开品字形布局的三激光头协同切割落料路径规划方法和系统，属于工艺路径优化领域。本发明将三头激光切割路径优化问题拆分为三头激光切割协同分区子问题和分区内激光切割路径优化子问题，这两个子问题之间相互影响，相互制约。在对切割区域进行分区后，对分区内的激光切割路径进行优化，通过确定的切割路径可以计算得到切割时间，根据切割时间差再对分区进行调整并重新确定分区内的切割路径，不断迭代后实现三头激光切割的协同分区。在保证激光头不碰到极限的情况下使得三个激光头切割时间基本均衡且对卷料进行循环切割，保证切割效率高。
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公开(公告)号：CN113909683B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202111191696.7
申请日：2021-10-13
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开品字形布局的三激光头协同切割落料路径规划方法和系统，属于工艺路径优化领域。本发明将三头激光切割路径优化问题拆分为三头激光切割协同分区子问题和分区内激光切割路径优化子问题，这两个子问题之间相互影响，相互制约。在对切割区域进行分区后，对分区内的激光切割路径进行优化，通过确定的切割路径可以计算得到切割时间，根据切割时间差再对分区进行调整并重新确定分区内的切割路径，不断迭代后实现三头激光切割的协同分区。在保证激光头不碰到极限的情况下使得三个激光头切割时间基本均衡且对卷料进行循环切割，保证切割效率高。
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公开(公告)号：CN118729985A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410690228.1
申请日：2024-05-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明属于精密测量相关技术领域，并公开了一种正交线光谱共焦扫描轮廓测量传感器及抗振方法。该传感器包括光源模块、第一、第二方向线色散共焦成像模块，光源模块用于产生两束正交的准直线白光；两束正交的准直线白光分别进入第一、第二方向线色散共焦成像模块，以此扫描待测样品表面并成像，进而获得两个正交角度的待测样品表面轮廓；第一方向线色散共焦成像模块包括第一线色散共焦结构、第二狭缝、第一成像单元；第二方向线色散共焦成像模块包括第二线色散共焦结构、第三狭缝和第二成像单元；第二狭缝和第三狭缝的方向分别与第一狭缝中的两正交狭缝的方向相同。通过本发明，解决线扫描表面测量过程中的振动影响测量精度的问题。
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公开(公告)号：CN118654599A
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410690669.1
申请日：2024-05-30
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于精密测量相关技术领域，公开了一种线扫描表面测量抗振方法，并公开了一种线光谱共焦扫描表面抗振测量系统。该测量系统包括光源、第一狭缝、线性色散模块、第二狭缝、第三狭缝和成像单元，第一狭缝中心设置有两条正交的狭缝，用于将光源的光线转化为相互正交的两束光线；线性色散模块用于将相互正交的两束光线色散并聚焦在待测样品表面形成两条正交的测量光线；第二、三狭缝的方向分别与第一狭缝中两条狭缝的方向相同，两条正交的测量光线分别经过第二、三狭缝后进入各自的成像单元中，进而获得待测样品表面轮廓。扫描表面测量中，对不断获得的表面轮廓数据进行处理，解决线扫描表面测量中的振动影响问题，实现线扫描表面抗振测量。
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